Секущая линия

Cтраница 2

Для каждой вершины графа из подмножества с положительными Дг-выполняем следующую операцию. Рассекаем плоскость решетки на две части горизонтальной секущей линией относительно этой вершины. [16]

Отрезки можно измерять линейкой оку-ляр микрометра, которая и является секущей линией. Увеличение выбирают таким, чтобы длина отрезка в среднем была не меньше 5 - 10 делений шкалы. Общую длину секущих линий берут достаточной для получения нужного числа отрезков. Линии должны быть равномерно распределены по всей площади шлифа. [17]

Данные об изобарическом парожидкостном равновесии в системах этанол - вода - фенол и этанол - бутилацетат - фенол в литературе отсутствуют, поэтому они были получены экспериментальным путем. Из вершины, в данном случае соответствующей фенолу, проводили четыре секущие линии, которые разбивали поле треугольника на равные области. [18]

Морфометриче-ский анализ такими тестовыми системами дает искаженные результаты. На нем Вы убедились, что линейное интегрирование путем вращения линейки завышает величину удельной площади. Это легко объяснить, взглянув на рис. 36, б: при измерении хорд сечения объекты, расположенные в центре поля зрения, измеряются чаще, чем по периферии вследствие различной плотности секущих линий. [19]

Если взять образец ткани или органа, сделать из него гистологический срез, то удельная площадь сечении объектов на площади среза будет соответствовать удельному объему объекта в образце. Следовательно, если на случайный срез образца наложить тестовую систему точек или линий, то отношение числа точек, попавших на объект, к общему числу точек равно отношению суммы хорд сечения к длине секущих линий, равно удельной площади сечения объектов и равно удельному объему объектов в образце. [20]

Если узел или часть узлов ориентированного графа окружить замкнутой линией, то некоторые ветви графа обязательно пересекут эту линию. Например, для графа мостовой схемы ( рис. 2.31) некоторые из секущих линий показаны пунктиром на рис. 2.32, где жирными линиями отмечены ветви выбранного дерева. [21]

Методы пространственного отбора. Случайная, систематическая, послойная и однородная схемы отбора. [22]

Систематические схемы действуют почти так же, как и случайные, но сейчас в качестве основы отбора мы используем повторяющийся шаблон вместо случайных чисел. Для точечных данных мы могли бы, например, выбрать каждое десятое дерево, или деревья, расположенные примерно в двадцати метрах друг от друга. Для исследования небольших делянок или квадратов мы выбирали бы их таким же образом - каждый энный или через каждые п метров. Аналогично, если мы используем пересечения линий для отбора, популярный метод для исследования растительных ассоциаций, мы могли бы по системе определить, где окажется каждое пересечение, и сделать перепись растительности вдоль каждой такой секущей линии. Или, если мы желаем полностью осмотреть отдельные делянки или квадраты, мы можем опять же выбрать их, используя систематический, повторяющийся шаблон отбора каждого квадрата для исследования. [23]

Методы пространственного отбора. Случайная, систематическая, послойная и однородная схемы отбора. [24]

Схема сканирующего телевизионного микроскопа Квантимет. [26]

Значительным прогрессом в аппаратурном обеспечении количественной металлографии явилось создание приборов, действие которых основано на принципе сканирования микроструктуры световым лучом. Используют два принципиально различных метода сканирования. При сканировании щелью пользуются узкой щелеобраз-ной апертурой, расположенной перпендикулярно к линии сканирования. Высота сканирующей щели при этом превышает средний линейный размер ( поперечник) микрочастиц. При сканировании пятном световой луч прочерчивает линию, ширина которой ( равная диаметру пятна) должна быть возможно меньшего размера и значительно меньше среднего линейного размера микрочастиц. Процесс сканирования пятном подобен анализу микроструктуры с применением секущих линий. [27]

Страницы: 1 2