Слабая спектральная линия

Cтраница 1

Слабые спектральные линии, обусловленные переходом между триплетными и синглетны-ми состояниями, обозначены пунктирными линиями. [1]

Слабые спектральные линии уже при сравнительно небольших увеличениях разбиваются на отдельные зерна. [2]

Слабые спектральные линии уже при сравнительно небольших увеличениях разбиваются на отдельные зерна. При малом числе зерен более заметны флуктуации их числа. При микрофото-метрировании пластинки флуктуации усредняются вдоль участка линии, вырезаемой щелью микрофотометра. [3]

Уже в первых пробных спектрограммах были обнаружены слабые спектральные линии со значительно большим изменением длины волны, чем ОДА. В воздухе повисли грозные слова фальшивый свет, которые спектроскописты воспринимают как оскорбление. Ложные линии нередко появляются на спектрах. Они свидетельствуют о том, что спектральный прибор низкого качества или плохо отъюстирован, или в него попадает посторонний свет, отражающийся на оптических деталях, стоящих перед спектрографом. [4]

В работах [24, 41, 42], рассматривая вопрос об обнаружении слабых спектральных линий как задачу обнаружения сигнала в присутствии помехи Славный использует методы и результаты статистической теории связи. Сформулированный им критерий обнаружения сигнала, основан на статистических понятиях вероятности ложной тревоги ( принимается решение, что сигнал присутствует, когда его в действительности нет) и вероятности обнаружения. За пороговый сигнал принимается такой, при котором обеспечиваются наперед заданные и достаточно малые вероятности ошибок. При аддитивной помехе критерии типа ka, основанные на отношении сигнал / шум, являются частным, случаем общего критерия. [5]

Поэтому недопроявление спектрограмм может привести к ухудшению возможностей обнаружения очень слабых спектральных линий. [6]

Вопрос о преимуществах фотографической или фотоэлектрической регистрации при обнаружении очень слабых спектральных линий в случае анализа достаточно однородных материалов нельзя считать практически окончательно решенным. Теоретически преимущество должно принадлежать фотоэлектрическим приемникам, квантовый выход которых на порядок и более превосходит эквивалентный квантовый выход фотографических эмульсий. Соответствующие расчеты, выполненные в работах [748, 429], указывают, что с помощью фотоэлектрической регистрации, производящейся в оптимальных условиях, можно обнаруживать в 3 - 5 раз менее интенсивные спектральные линии, чем с помощью фотографической регистрации. Именно поэтому фотоэлектрическая регистрация широко применяется в перечисленных методах анализа, обеспечивая не только удобство, экспрессность и высокую точность определений, но и возможность обнаружения очень малых содержаний искомых элементов. Правда, нет сравнительных экспериментальных данных, из которых следовало бы, что применение в этих методах анализа фотографической регистрации не может обеспечить достижения таких же или меньших пределов обнаружения. [7]

Это ограничивает возможности анализа веществ, обладающих многолинейчатым спектром, и обнаружения слабых спектральных линий. [8]

Зависимость логарифма ляется разрешающей способностью. [9]

Для практических целей весьма важным вопросом является выбор оптимальной ширины щели для наилучшего обнаружения слабых спектральных линий. [10]

Для практических целей весьма важным вопросом является выбор оптимальной ширины щели для наилучшего обнаружения слабых спектральных линий. [11]

L D / IS) Ддя единичного и двойного путей близко к 2 для слабых спектральных линий. Тот факт, что на опыте мы довольно удовлетворительно приближаемся к этим условиям, показывают экспериментальные данные, приведенные в разд. [12]

Зеркальная конденсорная система для. [13]

Например, применение малосветосильных приборов большой разрешающей силы, способствующее при определенных условиях лучшему обнаружению слабых спектральных линий ( гл. Вместо обычной трехлинзовой системы освещения щели спектрографа применяют однолинзовый ахроматический конденсор с 6 - 8-кратным увеличением изображения источника на щель. Более полное использование света обеспечивает расположение за источником возбуждения дополнительного сферического зеркала. Однако увеличение числа оптических элементов приводит к росту потерь света, которые особенно значительны в УФ области. [14]

По-видимому, эмульсия Микрат, характеризующаяся к тому же высокой контрастностью, может в ряде случаев обеспечить обнаружение наиболее слабых спектральных линий, которые не регистрируются другими фотоэмульсиями. [15]

Страницы: 1 2 3 4