Cтраница 3
Но необходимо тем не менее иметь представление о возможных в этих измерениях ошибках при работе с тяжелыми ионами. Метод двух эталонных линий ( подобно методу, примененному Ниром [3]) позволяет быстро проводить абсолютно точное измерение массы. [31]
На рис. 19 показана в качестве примера диаграмма записи изменения температур в объеме проб при их одновременном испытании в аппарате. На рис. 19 четко фиксируется процесс самовозгорания ( самовоспламенения) проб, происходящий в одинаковых условиях. При отклонении температурной кривой от эталонной линии 2 ( сравнительной) начинается процесс самовозгорания. Температура, при которой наблюдается отклонение кривой от эталонной линии, считается той температурой окружающей среды, при которой происходит самовозгорание пробы материала. Экспресс-методы дают завышенные значения температур окружающей среды, при которых возникает самовозгорание материалов. Однако эти результаты могут быть полезны, если они сравнимы с хорошо известными экспериментальными данными для эталонных материалов, которые испытываются одновременно в приборе. [32]
В табл. 6 дается серия измерений, приводящих к ошибочным значениям величин измеряемых масс. Вероятно, неточность возникла из-за наличия какой-то изолирующей пленки на поверхности пластин электростатического анализатора. Для данной аппаратуры такие результаты наименее точны; при проведении этих измерений не применяли ни прогревания системы, ни холодных ловушек. Тем не менее, благодаря тому что в спектре имеются две эталонные линии, можно по этим данным вычислить более точное значение массы. Отношение действительной массы С02 к измеренной составляет 0 99936, а интервал, в котором проводились измерения, составляет 4 ат. [33]
Экспериментальная проверка прибора показала, что для получения в столь широком диапазоне частот погрешности порядка 0 2 приходится вводить ряд поправочных кривых. Это затрудняет работу с прибором и исключает возможность дальнейшего повышения точности измерений. Поэтому для более точных измерений автор рекомендует применять компенсационный метод фазовых измерений с эталонными линиями в качестве фазовращателей. [34]
Если изучаемые линии имеют форму, отличную от эталонных линий, то для них измеряемая ширина будет представлять некоторую величину бэфф, которая уже не будет равна их истинной ширине. Измеряемые на практике соотношения между величинами / о для широких и узких линий зависят от возбуждающей линии и аппаратной функции. Поэтому для измерения б у линий различной ширины необходимо производить нормировку и noN узким и по широким эталонным линиям. Метод эффективной ширины, таким образом, должен опираться на ряд эталонных линий различной ширины, контуры которых должны быть хорошо измерены непосредственными методами. [35]
Эти зависимости наглядно показывают, как меняется помехоустойчивость рассматриваемых линий по отношению к эталонной. Предельная дальность для эталонной линии составляет - 86 км, а для линии без частотных искажений - 70 км. Для всех расстояний линия РСИ-4А оказывается неудовлетворительной ( кривая 5), хотя на расстояниях, близких к предельным для эталонной линии ( около85км), ж, может возрастать. Но это обстоятельство несущественно, так как при этом радиолиния РСИ-4А обеспечивает разборчивость значительно ниже предельной. [36]
Спектрографы широко используются при химических и металлургических анализах: их можно использовать для быстрого определения примесей и следов металла в сплавах. Таким прибором является кварцевый спектрограф Е 498 Хилгера ( Hilger) с новыми приспособлениями для прямого отсчета. Чувствительная система прибора состоит из одиннадцати фотоумножителей, размещенных позади выходных щелей, через каждую из которых проходит свет какой-нибудь спектральной линии. Таким образом в чувствительную систему поступают одна общая эталонная линия и десять исследуемых линий. Выходные сигналы фотоумножителей накапливаются в емкостях, потенциалы которых в конце экспозиции пропорциональны интенсивностям спектральных линий. [37]
На рис. 19 показана в качестве примера диаграмма записи изменения температур в объеме проб при их одновременном испытании в аппарате. На рис. 19 четко фиксируется процесс самовозгорания ( самовоспламенения) проб, происходящий в одинаковых условиях. При отклонении температурной кривой от эталонной линии 2 ( сравнительной) начинается процесс самовозгорания. Температура, при которой наблюдается отклонение кривой от эталонной линии, считается той температурой окружающей среды, при которой происходит самовозгорание пробы материала. Экспресс-методы дают завышенные значения температур окружающей среды, при которых возникает самовозгорание материалов. Однако эти результаты могут быть полезны, если они сравнимы с хорошо известными экспериментальными данными для эталонных материалов, которые испытываются одновременно в приборе. [38]
Если изучаемые линии имеют форму, отличную от эталонных линий, то для них измеряемая ширина будет представлять некоторую величину бэфф, которая уже не будет равна их истинной ширине. Измеряемые на практике соотношения между величинами / о для широких и узких линий зависят от возбуждающей линии и аппаратной функции. Поэтому для измерения б у линий различной ширины необходимо производить нормировку и noN узким и по широким эталонным линиям. Метод эффективной ширины, таким образом, должен опираться на ряд эталонных линий различной ширины, контуры которых должны быть хорошо измерены непосредственными методами. [39]
Все последующие каскады измерителя аналогичны описанному и отличаются лишь величиной задержки эталонной линии: Гэ каждого последующего каскада в два раза меньше Тэ предыдущего. Схемы совпадений и антисовпадений сделаны таким образом, что амплитуда импульсов на их выходе равняется амплитуде импульса, поступающего на вход измерительного блока. Для этого используются туннельные диоды. С их помощью удается получить высокую скорость одностороннего срабатывания временного дискриминатора и запомнить факт срабатывания. Минимальную величину эталонной линии следует брать не меньше величины фронта импульса. С помощью туннельных диодов технически можно обеспечить фронт порядка 10 - 9 сек. Это технически легко выполнить, если даже использовать отрезки кабеля. [40]
Интенсивность интерференции при рентгеноструктурном анализе определяется содержанием соответствующих кристаллов и плоскостями, от которых происходит отражение. Хотя величина частиц в боксите, как уже отмечалось, чаще всего меньше микрона, пробу боксита нужно измельчить тоньше 10 мкм, потому что по структуре бокситы очень неоднородны. На яркость интерференционных линий также весьма влияет плотность упаковки пробы и абсорбционной способности. Для установления эталонных линий исходят из двухкомпонентных систем, которые составляют из постоянных количеств подходящих стандартных материалов - эталонов. Интенсивность каких-либо дифракционных линий определяемого минерала и эталонов наносят на диаграмму относительно концентрации. Так получают эталонную линию, которая может быть перенесена на многокомпонентную систему. [41]
Например, для атома фтора парамг нитный вклад является естественным следствием доступное низколежащих р-орбиталей. Здесь же мы просто примем, что для протонов в MOJ кулах ст всегда положительна. Все яд экранированы, и их резонансный сигнал наблюдается в бол сильном поле ( или при более низкой частоте), чем для изолир ванного протона. Для отдельных соединений протоны разн: групп называют экранированными или дезэкранированными с носительно некоторой эталонной линии в спектре, если их сигь лы находятся соответственно в более сильном или боле слаб от нее поле - Это видно в спектре бензилацетата ( рис. II. В н метильные протоны по отношению к метиленовым протон экранированы, а ароматические протоны по отношению к н дезэкранированы. В подобных случаях часто говорят соответ. [42]
Интенсивность интерференции при рентгеноструктурном анализе определяется содержанием соответствующих кристаллов и плоскостями, от которых происходит отражение. Хотя величина частиц в боксите, как уже отмечалось, чаще всего меньше микрона, пробу боксита нужно измельчить тоньше 10 мкм, потому что по структуре бокситы очень неоднородны. На яркость интерференционных линий также весьма влияет плотность упаковки пробы и абсорбционной способности. Для установления эталонных линий исходят из двухкомпонентных систем, которые составляют из постоянных количеств подходящих стандартных материалов - эталонов. Интенсивность каких-либо дифракционных линий определяемого минерала и эталонов наносят на диаграмму относительно концентрации. Так получают эталонную линию, которая может быть перенесена на многокомпонентную систему. [43]