Cтраница 2
![]() |
Одновременная регистрация атомного. [16] |
Для работы с элементами, абсорбционные линии которых расположены в видимой области спектра, используют спектрофотометр, собранный на базе спектрографа ИСП-51 и фотоэлектрической приставки ФЭП-1. Для удобства регистрирующие блоки ФЭП-1 ( усилитель, стабилизированный выпрямитель и электронный потенциометр ПС 1 - 02) размещены в каркасе общей стойки. [17]
Представляется возможным производить более точную установку абсорбционных линий на выходной щели монохро-матора; при проведении этой операции с помощью обычных систем измерения токов ( гальванометров, микроампермет-оов) установка абсорбционной линии не всегда оказывается правильной. [18]
С уменьшением разрешающей силы монохроматора интенсивность абсорбционной линии, выделенной на фоне непрерывного спектра, уменьшается, что с аналитической точки зрения соответствует уменьшению чувствительности метода. [19]
![]() |
Нахождение абсорбционных линий железа фотографическим методом. [20] |
Из полученных данных следовало, что наиболее сильной абсорбционной линией железа является Fe 2483 27 А, тогда как его наиболее сильная эмиссионная линия Fe 3720 А. [21]
Для переходных металлов, имеющих сложные спектры, абсорбционные линии находятся в тесном окружении линий, не поглощаемых атомным паром. Следовательно, чувствительность атомно-абсорбционного анализа в этом случае прямым образом зависит от разрешающей силы монохроматора и спектральной ширины его щели. [22]
По указанной причине в спектрах рассматриваемых объектов наблюдаются абсорбционные линии бальмеровской серии. [23]
При работе с источником сплошного излучения применяют сканирование абсорбционной линии в плоскости выходной щели монохроматора. Оно состоит из металлической планки с прямоугольным вырезом и укрепленной на отсчетном барабане длин волн. При вращении диска, укрепленного на оси редукторного двигателя ( использован двигатель от регистрирующего микрофотометра МФ-4), планка при помощи штифта, входящего в ее вырез, периодически перемещается в прямом и обратном направлении. [25]
![]() |
Зависимость атомного поглощения от концентрации элемента в растворе. [26] |
Уменьшение наклона графика и его искривление при фотоэлектрической регистрации абсорбционной линии объясняется автором недостаточным разрешением монохрома-тора. [27]
Рассмотрение регистрограммы, приведенной на рис. 9, показывает, то абсорбционная линия Mg 285 2 ммк совпадает с одной из линий, составляющих молекулярную полосу поглощения, и неясно, является ли эта линия в спектре поглощения чистого растворителя линией магния или обусловлена ОН-радикалом. Приведенный тип оптических помех мало отличается от частого в эмиссионном анализе случая наложения на аналитическую линию определяемого элемента линии анализируемой основы. [29]
![]() |
Величина Nm / N0 для резонансных линий некоторых элементов. [30] |