Аналитическая линия - исследуемый - элемент
Cтраница 1
Аналитические линии исследуемых элементов, использованные для проведения анализа, следующие: Си 3273 96А; Cd 2288 02 А; Pb 2833 07 А; Ag 3382 89 А; Аи 2675 95 А и Zn 3345 57 А. Область спектра от 2200 до 3000 А регистрировалась на фотопластинках спектральные, тип I, чувствительностью 0 5 ед. Область спектра от 3000 А и дальше регистрировалась на фотопластинках репродукционные штриховые, чувствительностью 2 ед. [1]
В работе использованы следующие аналитические линии исследуемых элементов: Zn 3302 A; Ag 3280А; Си 3247 A; Bi 3067A; Sn 2839А; РЬ 2833 А и Cd 2288 А. [2]
Для проведения анализа используются следующие аналитические линии исследуемых элементов: Си 3273 96 A; Cd 2288 02 A; Zn 3345 02A; Pb 2833 07 A; Ag 3382 89 А и Аи 2675 95 А. [3]
 |
Схема установки для обогащения цинка. [4] |
Для проведения анализа используют следующие аналитические линии исследуемых элементов: Ag 3382 89 А; Си 3247 54 A; Bi 3067 71 А; Sn 2839 98 А; РЬ 2833 07 A; Sb 2598 06 А; № 3050 82 А; Со 3092 71 А и Ga 3453 50 А. [5]
Для проведения анализа используются следующие аналитические линии исследуемых элементов: Си 3273 96 A; Cd 2288 02 A; Zn 3345 02A; Pb 2833 07 A; Ag 3382 89 А и Аи 2675 95 А. [6]
Полученные спектрограммы фотометрируют при помощи микрофотометра. Для проведения анализа используют следующие аналитические линии исследуемых элементов: Bi 3067 7 A; Ga 2943 6 А; Аи 2675 9 А-Со 3044 0 А; Си 3273 9 A; Ni 3050 8 А; РЬ 2833 1 А и Ag 3280 1 А. Оценку содержания примесей производят по абсолютному почернению аналитических линий. [7]
Полученные спектрограммы фотометрируют при помощи микрофотометра. Для проведения анализа используют следующие аналитические линии исследуемых элементов: Bi 3067 7 A; Ga 2943 6 А; Аи 2675 9 А; Со 3044 0 А; Си 3273 9 A; Ni 3050 8 А; РЬ 2833 1 А и Ag 3280 1 А. Оценку содержания примесей производят по абсолютному почернению аналитических линий. [8]
Навески набивают в кратеры заготовленных электродов. Верхними электродами служат спектрально чистые угли, заточенные на конус. Спек-трографирование производят в дуге переменного тока при силе тока 18 а, без предварительного обжига. В коротковолновую область закладывают фотопластинку спектральная, типа II или III, в длинноволновую область - типа I. Освещение щели спектрографа производится через трехлинзо вый конденсор, при этом промежуточная диафрагма 3 2 мм. На обработанной пластинке фо-тометрируют следующие аналитические линии исследуемых элементов: Pt 2659 45 A; Pd 3242 70 A; Ag 3280 68 А; № 3050 82 A; Fe 2599 57 А; Си 3273 96 A; Mg 2802 69 А; А1 3092 71 A; Bi 3067 72 A; Sn 2839 99 А; РЬ 2833 67 A; Cd 2288 02 А; As 2349 84 A; Hg 2536 52 A; Sb 2598 06 А; Аи 2675 95 А и Со 2521 36 А. [9]
Навески набивают в кратеры заготовленных электродов. Верхними электродами служат спектрально чистые угли, заточенные на конус. Спек-трографирование производят в дуге переменного тока при силе тока 18 а, без предварительного обжига. В коротковолновую область закладывают фотопластинку спектральная, типа II или III, в длинноволновую область - типа I. Освещение щели спектрографа производится через трехлинзовый конденсор, при этом промежуточная диафрагма 3 2 мм. На обработанной пластинке фо-тометрируют следующие аналитические линии исследуемых элементов: Pt 2659 45 A; Pd 3242 70 A; Ag 3280 68 A; Ni 3050 82 A; Fe 2599 57 А; Си 3273 96 A; Mg 2802 69 А; А1 3092 71 A; Bi 3067 72 A; Sn 2839 99 А; РЬ 2833 67 A; Cd 2288 02 А; As 2349 84 A; Hg 2536 52 A; Sb 2598 06 А; Аи 2675 95 А и Со 2521 36 А. [10]
Страницы: 1