Cтраница 1
Отраженный луч воспринимается визуально ( по калиброванной шкале), развертывается во времени с помощью любой фотоэлектрической схемы или непосредственно записывается на движущуюся светочувствительную бумагу. [1]
Отраженный луч находится в одной плоскости с падающим лучом и перпендикуляром к отражающей поверхности в точке падения. [2]
Отраженный луч проходит затем через пластинки D и Е, в четверть волны одиноковых размеров 99 см на 24 см, как показано на фиг. Модель моста Е занимает пространство между этими пластинками и может быть рассматриваема через анализатор, состоящий из тонких стеклянных пластинок G, перекрывающих под соответствующим углом все поле зрения. [3]
Отраженный луч поступает в приемную оптическую систему 02, на выходе которой расположен узкополосный интерференционный фильтр ИФ. Обработка сигнала сводится к подсчету числа фотоэлектронов ( ток фотодетектора) за время импульса и сравнению этого числа с пороговым в ПУ. С выхода оптического фильтра сигнал поступает на фотодетектор ФД и усилитель У. В Качестве фотодетекторов применяются фотокатоды, фотоумножители и другие преобразователи световой энергии в электрическую. [4]
Отраженный луч от диэлектрика частично поляризован, колебания света совершаются перпендикулярно плоскости падения. Преломленный луч также частично поляризован. Колебания его совершаются в плоскости преломления. [5]
Отраженный луч лежит в плоскости падения, причем угол падения равен углу отражения. [6]
Отраженный луч лежит на прямой, проходящей через точку S и точку, симметричную точке А относительно данной прямой. [7]
Отраженный луч попадает на опорное зеркало 17, отразившись от которого снова возвращается на светоделительную пластину. Луч света, прошедший полупрозрачную пластину, падает на зеркало 15, жестко связанное с подвижной системой вибратора 16 и, отразившись, также возвращается на полупрозрачную пластину. [8]
Отраженный луч оказывается более или менее поляризованным. При этом степень поляризации определяется величиной угла падения луча, а характер поляризации - природой и строением слоя границы раздела. [9]
Отраженный луч становится более сильным в том случае, когда разность хода лучей, отраженных от двух соседних плоскостей, составит целое число п длин волн. [10]
Отраженный луч оказывается линейно или эллиптически - поляризованным. [11]
Отраженный луч направляется в обычную порошковую камеру, и съемка проводится аналогично съемке в немонохроматизи-рованном излучении. Качество рентгенограмм, естественно, резко улучшается и повышается чувствительность фазового анализа. [12]
Отраженный луч лежит в плоскости падения, образуемой падающим лучом и нормалью к поверхности в точке падейия; угол падения равен углу отражения. Все углы отсчитываются от нормали. [13]
Отраженный луч проходит через цилиндрическую призму 5 и фокусируется непосредственно на движущейся светочувствительной бумаге 9, где оставляется след в виде осциллограмм, отображающей повороты зеркальца. [14]
![]() |
Принципиальные схемы микроинтерферометра. а - с наклоном эталонного зеркала. и - со смещением объектива. [15] |