Рентгеновский луч

Cтраница 1

Принципиальная схема возникновения рентгенограммы структуры волокна в объемном представлении с помощью шара положений.| Векторное изображение положения оси волокна относительно нормали к плоскости отражения. [1]

Рентгеновский луч падает под углом & на кристаллографическую плоскость ( hkl) и отражается от нее под тем же углом. Поскольку ось волокна одновременно является осью вращения образца при вертикальном падении излучения на проволоку, семейство плоскостей hkl четырежды попадает в положение отражения, в результате чего возникают рефлексы Р, Рц, Р PIV - В этом случае они расположены симметрично относительно горизонтальной XX и вертикальной YY осей пленки. Когда кристаллографическая плоскость параллельна оси вращения, наблюдаются лишь два участка скопления рефлексов, расположенных симметрично относительно горизонталей. [2]

Получение рентгенограммы. [3]

Рентгеновский луч, отличающийся от светового меньшей ( - в 10000 раз) длиной волны X, падает на точку Л кристалла под углом а и отражается под тем же углом. Другой параллельный луч падает на точку Б другой параллельной плоскости кристалла и, отражаясь под тем же углом, также проходит через точку А. [4]

Рентгеновский луч обладает определенной избирательностью по отношению к кристаллографическим плоскостям. [5]

Рентгеновская трубка ( схема. [6]

Рентгеновскими лучами называются электромагнитные излучения, длина волны которых колеблется в пределах 0 06 - 20 А. [7]

Рентгеновскими лучами называются электромагнитные лучи, подобные световым лучам, но отличающиеся от них некоторыми особыми свойствами. Эти лучи получаются под влиянием высокого напряжения электрического тока, проходящего через рентгеновскую трубку, представляющую собой стеклянный баллон с выкачанным воздухом и тремя впаянными металлическими пластинками. Рентгеновские лучи не видимы для глаза. [8]

Пусть рентгеновский луч падает на плоскость ( 010) примитивной ячейки под углом, отвечающим условию Вульфа - Брег-га. Если ячейка непримитивная, то отраженные от плоскостей ( 010) рентгеновские лучи будут либо усиливаться, либо гаситься, в зависимости от порядка и симметрии расположения атомов внутри элементарной ячейки. [9]

Просвечивание рентгеновскими лучами на экран по схеме, представленной на фиг. [10]

Контролю рентгеновскими лучами подвергают изделия, работающие под давлением или в особо тяжелых условиях. Просвечиванием выявляют дефекты паяного шва, которые на экране имеют вид светлых полос и пятен. [11]

Возбужденный рентгеновскими лучами сцинтиллятор обнаруживает послесвечение, которое используется в медицинской радиодиагностике. Измерения термолюминесценции в интервале температур от 50 до 600 К позволяют определить концентрацию ловушек в этих материалах. По всей вероятности, ловушки связаны с дефектами решетки, обусловленными дефицитом кислорода. Термолюминесценция при более высокой температуре обнаруживает глубокие ловушки, которые определяют послесвечение в этих люминесцентных материалах. [12]

Вызванная рентгеновскими лучами молекулярная ассоциация гемоциа-нина, наблюдаемая при ультрацентрифугировании. [13]

Фотоионизация рентгеновскими лучами отличается от фото-ионизации ультрафиолетовым излучением рядом дополнительных элементарных процессов. При этом могут иметь место три различных случая. [14]

Просвечивание рентгеновскими лучами дает возможность выявлять дефекты внутри шва без его разрушения благодаря свойству рентгеновских лучей неодинаково проникать через различную среду. При просвечивании сварной шов рассматривается либо непосредственно, либо на снимке. При доброкачественном шве наблюдается ровное потемнение пленки, а различные дефекты дают отклонения от такого характера рентгенограммы. Этим способом выявляются трещины, газовые пузыри, окислы, непровары и другие дефекты. [15]

Страницы: 1 2 3 4