Тонкий луч

Cтраница 3

Подобное явление наблюдается и в коллоидных растворах: если через прозрачный на вид коллоидный раствор, помещенный на темном фоне, пропустить тонкий луч света и наблюдать сбоку, то вне раствора луч не виден, а внутри раствора его путь виден, как яркая фосфоресцирующая полоса. Кавычки у слова фосфоресцирующая поставлены не зря - хотя внешне это явление похоже на фосфоресценцию, оно имеет другую природу и носит название опалесценции или эффекта Тиндаля. [31]

Толщина h фоторегистрирующей среды никак не будет проявляться, если она заметно меньше величины / IQ / 2: ведь в этом случае тонкий луч света, проходя через среду, не будет пересекать слои различной прозрачности. Такая голограмма аналогична тонкому экрану. Наоборот, при толщине, много большей / го, луч света, бегущий вдоль оси z, много раз пересекает слои разной прозрачности, частично проходя сквозь каждый слой - зеркало, а частично отражаясь от него. [32]

Второе явление заключается во влиянии электрического поля на траекторию полета электронов, что позволяет разогнать пучок электронов до высокой скорости, сфокусировать его до очень тонкого луча и перемещать луч по полю экрана для получения на экране видимого следа. Важно правильно понять оба этих явления и их влияние на свойства ЭЛТ, поскольку от характеристик ЭЛТ зависит эффективность применения большинства интерактивных графических систем. [33]

Вид сверху на границу электронного облака для различных а.| Вид сбоку на границу электронного облака. [34]

Имея в виду низ КОБОЛ ьтность, малые длины волн, большие замедления ( Л / Я 1) и считая Л d, иногда целесообразно рассматривать МПВ как приборы с инжектированным электронным лучом, учитывая что тонкий луч с размерами А-слоя ограничен с противоположной аноду стороны плотным зарядом - виртуальным катодом. Это обеспечивает его устойчивость и подпитку электронами со стороны реального катода вдоль всей длины пространства взаимодействия, устраняя тем самым опасные нелинейные эффекты, присущие лучевым приборам. [35]

Ограничения поперечного сечения электронного пучка, осуществляемого модулятором, еще не достаточно для формирования осциллограммы Необхоли ма дальнейшая фокусировка электронного п чка, которая осуществляется пс мощью первого анода о, высокий положительный потенциал которого ускоряет электроны, фокусирующего электрода 6, регулируемый потенциал которого позволяет создать такую конфигурацию поля, что электронный пучок сжимается в тонкий луч. [36]

У профилографа алмазная игла связана с зеркалом. На зеркало падает тонкий луч света. При колебаниях иглы, перемещаемой по исследуемой поверхности, отраженный луч света через систему зеркал направляется на вращающийся барабан со светочувствительной бумагой, на которой записывается профилограмма, отображающая неровности с увеличением по вертикали в 500 - 13800 раз и по горизонтали в 25 - 1000 раз. Профилографы типа Аммона и Левина пригодны для оценки чистоты в пределах 3 - 10-го классов. Они применяются главным образом в лабораторных исследованиях, так как использование их в производственных условиях затруднительно. Оценку класса чистоты поверхности оптическими методами производят с помощью микроскопа ( фиг. Первый используется для замера неровностей в пределах 3 - 8-го классов чистоты, второй - для контроля поверхностей 10 - 14-го классов. [37]

При освещении коллоидной системы сбоку ярким и тонким лучом света рассеянный отдельными коллоидными частицами свет виден в микроскопе как светящиеся точки на темном фоне. Для того чтобы были отчетливо видны отдельные частицы, необходимо применять очень сильный источник света. Золь должен быть достаточно разбавленным, иначе в микроскопе будет вид - jHa сплошная светящаяся полоса, а не отдельные Почки. [38]

В боковой стенке сосуда, наполненного жидкостью с показателем преломления п, проделано небольшое отверстие радиуса г, через которое вытекает струя. По оси отверстия горизонтально направляется тонкий луч света. [39]

Предполагалось, что рентгеновский пучок представляет собой бесконечно тонкий луч. [40]

Обычно рассматривается геометрическая схема измерений, в которой и облучение и съем информации происходят в одной и той же выделенной плоскости. При этом, как правило, облучение производят тонким лучом лазера, а регистрируется прошедшее через СРС излучение на оси зондирующего луча. Реже используется регистрация обратно рассеянного излучения. [41]

Электронные микроскопы, которыми в настоящее время оснащен каждый исследовательский центр, подразделяются на два типа. В растровых электронных микроскопах, называемых также сканирующими, пучок электронов фокусируется в тонкий луч, диаметр которого у поверхности может составлять менее 10 нм. [42]

Прибор, называемый электронографом, тщательно вакууми-руют. Источником электронов является разогретая вольфрамовая нить; электроны ускоряют потенциалом V и фокусируют в тонкий луч диафрагмой и магнитными линзами. Луч пропускают через образец в форме тонкой пленки ( - 10 - 5 - 10 - 6 см), так как твердые вещества сильно поглощают электроны. Дифрагированный луч наблюдают на флуоресцирующем экране и регистрируют на фотографической пластинке. Интерпретацию дифракционной картины обычно выполняют методом Фурье. [43]

Однако для того чтобы электроны не летели широким веером, иначе вместо острия электронного карандаша мы имели бы что-то вроде лохматой кисти - на пути между катодом и анодом устанавливают еще один электрод. Этот второй, вспомогательный анод, несущий меньшее положительное напряжение, сжимает электронный пучок в очень тонкий луч, который и способен чертить по экрану нужную нам линию. [44]

Действие сканирующих систем, как уже говорилось, сводится к последовательному облучению поверхности контролируемого объекта тонким лучом ионизирующего-излучения. Сигнал детектора преобразуется, откладывается в цифровой или аналоговой памяти и выдается на экран. [45]

Страницы: 1 2 3 4