Характеристические рентгеновские лучи - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Земля в иллюминаторе! Земля в иллюминаторе! И как туда насыпалась она?!... Законы Мерфи (еще...)

Характеристические рентгеновские лучи

Cтраница 1


Характеристические рентгеновские лучи возникают при переходе электрона с более удаленной от ядра орбитали атома на более близкую в том случае, если на более глубоко лежащей орбитали образовалась вакансия.  [1]

2 Рентгеновская трубка ( схема. [2]

Характеристические рентгеновские лучи образуются тогда, когда электроны возвращаются на вакантные места внутренних квантовых уровней, с которых были удалены электроны за счет внешней энергии.  [3]

Характеристические рентгеновские лучи возникают при отрыве электронов с К -, L - и ЛГ-оболочек атома с последующим возвращением атома из возбужденного состояния в нормальное путем перехода внешних электронов на вакантные места внутренних оболочек. Атомы с определенным атомным номером излучают строго определенные по длинам волн рентгеновские фотоны.  [4]

Характеристические рентгеновские лучи могут возникать и при переходе ядра из метастабильного состояния в основное, если этот переход осуществляется путем внутренней конверсии. Однако между характеристическим излучением, возникающим при / ( - захвате, позит-ронном и электронном распаде, и характеристическим излучением, возникающим при изомерном переходе, обнаруживается весьма существенное различие. При / ( - захвате, р - - и р - распаде возникают характеристические излучения дочерних элементов, появляющихся в результате радиоактивного распада.  [5]

Вторым типом рентгеновских лучей являются характеристические рентгеновские лучи. Такое название они получили потому, что эти лучи характеризуют вещество антикатода ( анода) рентгеновской трубки. Характеристические рентгеновские лучи имеют линейчатые спектры. Особенность этих спектров состоит в том, что атомы каждого химического элемента, независимо от того, в каких химических соединениях они находятся, имеют свой, вполне определенный линейчатый спектр характеристических рентгеновских лучей. Этим рентгеновские характеристические спектры атомов существенно отличаются от оптических электронных спектров тех же атомов. Оптические спектры атомов зависят от того, находятся ли атомы в свободном состоянии или в химических соединениях.  [6]

Вслед за фотоэффектом, когда электронные уровни энергии снова заполняются, атом излучает характеристические рентгеновские лучи и Оже-электроны. Очевидно, что монохроматические у-лучи создают линейчатые спектры фотоэлектронов.  [7]

Неупругие столкновения электронов с атомами могут вызывать их ионизацию, в результате чего возникают характеристические рентгеновские лучи. Характеристическое рентгеновское излучение является следствием отрыва электронов с К -, L - и Af-оболочек атома с последующим возвращением атома из возбужденного состояния в нормальное путем перехода внешних электронов на вакантные места внутренних оболочек. В силу этого длины излучаемых волн для каждого химического элемента имеют строго определенные значения. Основное назначение МРА - качественное и количественное определение химического состава приповерхностных слоев. Локальность анализа по объему составляет несколько кубических микрометров.  [8]

Очевидно, что атом, ядро которого испускает у-квант, должен благодаря внутренней конверсии испускать одновременно характеристические рентгеновские лучи. Во-вторых, при рассмотрении соотношений (17.14), если считать известными значения всех входящих в них велшшн, можно убедиться в том, что у-лучи испускаются не материнским, а дочерним ядром в момент его образования.  [9]

10 Полированная поверхность железо-никелевого метеорита, на которой видны большие кристаллические зерна, ориентированные парал - г дельно. Изображение составляет приблизительно 40 % натуральной вели -. чины - этот метеорит имеет в длину около 25 [ Griffith Observatory. ]. [10]

Электроны, бомбардирующие металлическую поверхность, возбуждают рентгеновское излучение точно так же, как при соударении с мишенью в рентгеновской трубке; при этом каждый вид атомов исследуемого образца испускает характеристические рентгеновские лучи с определенной длиной волны ( разд. Значения длин волн, установленные в результате наблюдений, позволяют идентифицировать элементы, присутствующие на микронном участке образца, бомбардируемом пучком электронов, а по интенсивности испускаемых рентгеновских лучей, соответствующим образом калиброванных, можно определить и количества различных элементов на исследуемом участке поверхности. Кроме того, электронный пучок может пробегать по образцу в растре ( подобно тому, как получают телевизионные изображения) с одновременным измерением рентгеновских лучей, возбуждаемых одним из элементов; измеряемая интенсивность рентгеновских лучей может фиксироваться осциллографом синхронно с электронным пучком. Такой прием дает картину пространственного распределения данного элемента ( рис. 17.14), причем светлые и темные участки изображения соответствуют участкам образца, на которых исследуемый элемент находится в больших или малых концентрациях. Именно этим способом было установлено, что ряд материалов, на первый взгляд вполне гомогенных, в действительности химически неоднородны, поскольку содержат ряд фаз различного состава или таких фаз, состав которых в различных местах образца различен. Эти объекты состоят из железо-никелевого твердого раствора, из которого при охлаждении расплава от первоначальной высокой температуры его образования выделялись пластинки почти чистого железа.  [11]

Техника исследований включает ряд методов, в числе которых метод Брэгга - Баррета, с помощью которого получают отображение расположенных вблизи поверхности слоев компактных кристаллов, и метод Ланга, применяемый для тонких кристаллов, через которые могут проникать характеристические рентгеновские лучи; при этом представляется возможной регистрация дифракционной картины за кристаллом.  [12]

Техника исследований включает ряд методов, в числе которых метод Брэгга - Баррета, с помощью которого получают отображение расположенных вблизи поверхности слоев компактных кристаллов, и метод Ланга, применяемый для тонких кристаллов, через которые могут проникать характеристические рентгеновские лучи; при этом представляется возможной регистрация дифракционной картины за кристаллом.  [13]

Техника исследований включает ряд методов, в числе которых метод Брэгга - Баррета, с помощью которого получают отображение расположенных вблизи поверхности слоев компактных кристаллов, и метод Ланга, применяемый для тонких кристаллов, через которые могут проникать характеристические рентгеновские лучи; цри этом представляется возможной регистрация дифракционной картины за кристаллом.  [14]

В 1934 г. в первоначальных наблюдениях Косселя и др. [262] и ранее, в 1922 г., в отчасти спорной работе Кларка и Дьюэйна [55] антикатод в рентгеновской трубке был сделан из монокристалла. Характеристические рентгеновские лучи, возбужденные падающим электронным пучком, дифрагировали затем в кристалле, давая картину линий Косселя на фотопластинке. Во всех этих случаях картины наблюдали с той же стороны кристалла, на которую падали электроны или рентгеновские лучи, но с тонким кристаллом возможна также геометрия на прохождение.  [15]



Страницы:      1    2