Cтраница 1
Магниты прибора де Коллонга, носящего название дефлектора де Коллонга, выверялись от времени до времени на специальной станции, размещенной в экономии Овсянникова. В 1921 году членом Магнитной комиссии В. Я. Павлиновым были сделаны в дефлекторе де Коллонга изменения, позволяющие его применять при очень больших значениях / J и Z в области аномалии и состоящие в устройство постоянного более сильного магнита, компенсирующего земное поле. [1]
В спидометре и тахометре имеется также магнитный экран, защищающий магнит прибора от влияния посторонних магнитных полей. Специальный магнитный шунт не допускает искажений при изменении, температуры прибора. [2]
При разборке магнитоэлектрического прибора с подвижной рамкой и внешним магнитом отпаивают провода, подводящие ток к рамке, замыкают магнит прибора разноименными полюсами вспомогательного магнита или пластиной из магнитомягкой стали с сечением, примерно равным сечению сердечника, и только после этого обойму с подвижной частью осторожно вынимают из магнитной системы. Затем отпаивают наружные концы верхней и нижних моментных пружин, откручивают винты, крепящие мостик к обойме и крепящие сердечник, и рамку с сердечником вынимают из обоймы. Если обнаруживают, что сожжена рамка или имеются короткозамкнутые витки, рамку перематывают. Для этого от нее отпаивают моментные пружины и растяжки. [3]
Датчик ДТКМ предназначен для двухпозиционного регулирования температуры в камерах с неагрессивной средой при отсутствии магнитных и электрических полей, действующих на магниты прибора. [4]
В последнее время начинает получать распространение магнитный метод контроля толщины слоя покрытия, основанный на изменении магнитного потока в цепи, состоящей из основного металла детали - стали и магнита прибора при наличии между ними немагнитного слоя покрытия. Это изменение магнитного потока обнаруживается по силе отрыва магнита от поверхности испытываемой детали, измеряемой при помощи торсионных весов или каким-либо другим методом, в зависимости от конструкции магаитного толще-мера. [5]
Для термомагнитной компенсации магнит прибора шунтируют термомагнитным сплавом, вследствие этого при изменении окружающей темп-ры магнитный поток перераспределяется между магнитом и шунтом. Размеры шунта и свойства сплава подбираются так, чтобы вышеуказанные погрешности компенсировались изменением потока магнита. [6]
Для термомагнитной компенсации магнит прибора шунтируют термомагнитным сплавом, вследствие этого при изменении окружающей темп-ры магнитный поток перераспределяется между магнитом и шунтом. Размеры шунта и свойства сплава подбираются так, чтобы вышеуказанные погрешности компенсировались изменением потока магтшта. [7]
Физические методы - магнитные и микроскопические. С увеличением толщины покрытия увеличивается расстояние между магнитом измеряющего прибора и: поверх-ностью основного металла, а сила притяжения между ними уменьшается. Метод очень чувствителен к чистоте подготовки поверхности основного металла под покрытием. Микроскопическое определение толщины позволяет получать надежные результаты путем прямого отсчета, однако оно требует длительной подготовки и применяется только для арбитражных определений. [8]
Для термомагнитной компенсации магнит прибора шунтируют термомагнитным сплавом, вследствие этого при изменении окружающей темп-ры магнитный ноток перераспределяется между магнитом и шунтом. Размеры шунта и свойства сплава подбираются так, чтобы вышеуказанные погрешности компенсировались изменением потока магнита. [9]
Для термомагнитной компенсации магнит прибора шунтируют термомагнитным сплавом, вследствие этого при изменении окружающей темп-ры магнитный поток перераспределяется между магнитом и шунтом. Размеры шунта и свойства сплава подбираются так, чтобы вышеуказанные погрешности компенсировались изменением потока магнита. [10]
Этот выбор произволен, однако обычно выбирают одну ( или больше, если это возможно) кристаллографическую ось. Кристалл монтируется в резонаторе таким образом, чтобы одна из осей, например ось х, была направлена вертикально. Вращая кристалл в резонаторе или магнит прибора относительно резонатора получают ряд значений расщепления. [11]