Cтраница 3
![]() |
Микрофотограммы линий 111.| Характеристическая кривая примененной рентгенопленки. [31] |
При той же настройке микрофотометра были промерены марки почернения примененной рентгенопленки. Проявление пленки, как и во всех остальных случаях, проводилось при 18 в течение 4 мин. [32]
Обычно эталонным источником пользуются и для получения марок почернения. [33]
![]() |
Схема графического определения неизвестной концентрации методом малых добавок в загрязненной основе. [34] |
Освещая ослабитель ртутной кварцевой лампой ПРК-4, получают марки почернений в ультрафиолетовой области, обычной лампой накаливания-в витимой. [35]
Спектр флуоресценции фотографируется через ступенчатый ослабитель для получения марок почернения. Ступенчатый ослабитель помещается в плоскость щели, которая должна быть равномерно освещена по высоте светом флуоресценции. Поскольку флуоресцения возбуждается той же лампой ПРК-2, что и комбинационное рассеяние, то условие одинаковой прерывистости освещения для фотопластинки соблюдается. Необходимо только, чтобы время экспонирования марок интенсивности не сильно отличалось от времени экспозиции спектра комбинационного рассеяния. Различие более чем в пять раз нежелательно. [36]
Для построения характеристической кривой необходимо на исследуемую фотопластинку нанести марки почернения. Для этого существует несколько способов. Почти все они исходят из постоянства времени экспозиции при нанесении марок почернения. [37]
В условиях развертки спектра во времени не представлялось возможным снять марки почернения, поэтому интенсивности поглощения оценивались визуально. [38]
Интенсивности, оцениваемые по почернению пятен рентгенограммы, являются относительными: марки почернения позволяют сопоставить их друг с другом, но не с интенсивностью первичного пучка. С другой стороны, почернение пятен зависит от многих факторов, не имеющих отношения к строению кристалла: режима работы аппарата, экспозиции, сорта пленки, режима ее проявления. Поэтому разные рентгенограммы, снятые с одного и того же кристалла, не могут быть непосредственно сопоставлены друг с другом; необходимо предварительно привести почернение пятен разных рентгенограмм к одной общей шкале. [39]
Эталлонный источник сравнения при этом совершенно не нужен, так как марки почернений фотопластинки, необходимые для построения характеристической кривой фотопластинки, можно получить различным способом с помощью любого вспомогательного источника света. Роль эталонного источника выполняет люмине-сцирующий слой, подчиняющийся закону Вавилова. [40]
![]() |
Мнкрофотограмма равномерно засвеченной фотопластинки. [41] |
Поэтому для получения сопоставимых результатов измерение плотностей почернения линий спектров и марок почернения должно проводиться с помощью одного и того же микрофотометра и при одних и тех же условиях измерения. [42]
Метод построения характеристических кривых должен исключать влияние эффекта Шварцшильда, для чего все марки почернения должны быть получены с одинаковым временем экспозиции, близким к времени фотографирования спектров анализируемых проб и эталонов. Это можно осуществить, применяя неселективный ступенчатый ослабитель, расположенный перед щелью спектрографа. [43]
![]() |
Серия спектрограмм, полученных с кюветой переменной толщины. [44] |
Здесь известно много способов, из которых распространение получили только два: метод марок почернений и метод сравнения почернений. [45]