Марка - почернение - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 3
В технологии доминируют два типа людей: те, кто разбираются в том, чем не они управляют, и те, кто управляет тем, в чем они не разбираются. Законы Мерфи (еще...)

Марка - почернение

Cтраница 3


31 Микрофотограммы линий 111.| Характеристическая кривая примененной рентгенопленки. [31]

При той же настройке микрофотометра были промерены марки почернения примененной рентгенопленки. Проявление пленки, как и во всех остальных случаях, проводилось при 18 в течение 4 мин.  [32]

Обычно эталонным источником пользуются и для получения марок почернения.  [33]

34 Схема графического определения неизвестной концентрации методом малых добавок в загрязненной основе. [34]

Освещая ослабитель ртутной кварцевой лампой ПРК-4, получают марки почернений в ультрафиолетовой области, обычной лампой накаливания-в витимой.  [35]

Спектр флуоресценции фотографируется через ступенчатый ослабитель для получения марок почернения. Ступенчатый ослабитель помещается в плоскость щели, которая должна быть равномерно освещена по высоте светом флуоресценции. Поскольку флуоресцения возбуждается той же лампой ПРК-2, что и комбинационное рассеяние, то условие одинаковой прерывистости освещения для фотопластинки соблюдается. Необходимо только, чтобы время экспонирования марок интенсивности не сильно отличалось от времени экспозиции спектра комбинационного рассеяния. Различие более чем в пять раз нежелательно.  [36]

Для построения характеристической кривой необходимо на исследуемую фотопластинку нанести марки почернения. Для этого существует несколько способов. Почти все они исходят из постоянства времени экспозиции при нанесении марок почернения.  [37]

В условиях развертки спектра во времени не представлялось возможным снять марки почернения, поэтому интенсивности поглощения оценивались визуально.  [38]

Интенсивности, оцениваемые по почернению пятен рентгенограммы, являются относительными: марки почернения позволяют сопоставить их друг с другом, но не с интенсивностью первичного пучка. С другой стороны, почернение пятен зависит от многих факторов, не имеющих отношения к строению кристалла: режима работы аппарата, экспозиции, сорта пленки, режима ее проявления. Поэтому разные рентгенограммы, снятые с одного и того же кристалла, не могут быть непосредственно сопоставлены друг с другом; необходимо предварительно привести почернение пятен разных рентгенограмм к одной общей шкале.  [39]

Эталлонный источник сравнения при этом совершенно не нужен, так как марки почернений фотопластинки, необходимые для построения характеристической кривой фотопластинки, можно получить различным способом с помощью любого вспомогательного источника света. Роль эталонного источника выполняет люмине-сцирующий слой, подчиняющийся закону Вавилова.  [40]

41 Мнкрофотограмма равномерно засвеченной фотопластинки. [41]

Поэтому для получения сопоставимых результатов измерение плотностей почернения линий спектров и марок почернения должно проводиться с помощью одного и того же микрофотометра и при одних и тех же условиях измерения.  [42]

Метод построения характеристических кривых должен исключать влияние эффекта Шварцшильда, для чего все марки почернения должны быть получены с одинаковым временем экспозиции, близким к времени фотографирования спектров анализируемых проб и эталонов. Это можно осуществить, применяя неселективный ступенчатый ослабитель, расположенный перед щелью спектрографа.  [43]

44 Серия спектрограмм, полученных с кюветой переменной толщины. [44]

Здесь известно много способов, из которых распространение получили только два: метод марок почернений и метод сравнения почернений.  [45]



Страницы:      1    2    3    4    5