Более мелкий масштаб
Cтраница 2
При очень больших размерах здания, когда практически план невозможно вычертить полностью даже на листе увеличенного размера, его вычерчивают на нескольких самостоятельных листах или же вычерчивают схематический план в более мелком масштабе ( 1: 400 - 1: 1000), а в указанном выше масштабе дают лишь детально проектируемую часть ( или части) плана. [16]
На каждом уровне масштаба структура ветвей нейрона подобна ( хотя и не обязательно идентична, как в случае идеальных фракталов) структурам, наблюдаемым как в более крупных, так и более мелких масштабах. [17]
Обоснование геофизических работ предусматривает учет всех благоприятных факторов, как контролирующих искомое оруденение, так и литологических, структурно-тектонических, магматических, геохимических и др., обеспечение проектных площадей кондиционной геологической основой более мелкого масштаба и знание физико-геологической модели среды. Важное значение имеет также геофизическое обоснование проектируемых работ, базирующееся на тщательном учете результатов ранее проведенных работ. [18]
 |
График получения точного значения IRR. [19] |
Поэтому при сравнении проектов IRR иногда противоречит NPV, так как проект может быть более доходным ( в расчете на вложенный рубль), но в абсолютном выражении давать меньший эффект из-за более мелких масштабов объекта инвестирования. [20]
На каждом уровне масштаба структура ветвей нейрона подобна ( хотя и не обязательно идентична, как в случае идеальных фракталов) структурам, наблюдаемым как в более крупных, так и в более мелких масштабах. [21]
Мерой этой связи служит коэффициент корреляции между пульсациями скоростей в точках жидкого объема, несущих в себе следы того первоначального вихревого возмущения, которое постепенно переносится от объемов одного масштаба к другим, более мелким масштабам. Определив пространственное распределение коэффициента корреляции, мы тем самым сможем оценить пространственную структуру турбулентных возмущений и найти на каждом этапе разрушения вихря его масштаб. [22]
Детальность инженерно-экологических изысканий для площадных объектов при разработке проектной документации должна отвечать масштабам инженерно-геологической съемки ( 1: 5000 - 1: 2000, при необходимости 1: 1000 на выбранной площадке и 1: 10000 - 1: 25000 в прилегающей зоне); для линейных сооружений допускается применение более мелких масштабов при обосновании в программе работ. [23]
Если же функция / аппроксимируется с помощью вейвлетов, то в этом случае совершенно определенно наличествует некоторый тип локализации; более того, эта локализация скроена по мерке: детали переходных процессов ( кратковременные детали) функции /, такие, например, как скачки или отмеченные пики могут быть легко локализованы при непосредственном рассмотрении вейвлетных коэффициентов, в то время как более медленные изменения / запоминаются в более глубоких слоях иерархии коэффициентов и автоматически представляются в более мелком масштабе; как следствие этого, они менее точно локализуются на временной оси. [24]
В цветовой обработке таких разрезов и разверток необходимо учитывать масштаб чертежа, так как окраска изображения имеет свою масштабность. Чертежи более мелкого масштаба выполняются в мягких, приглушенных тонах, крупные чертежи могут быть выполнены в локальном интенсивном цвете. Для такой цветовой обработки чертежей пользуются акварелью пли темперой. [25]
Членение дверей и ворот показывают только на фасадах в масштабе 1: 100 и крупнее. При более мелких масштабах показывают только контур створок. [26]
На всю область поиска должен быть подготовлен картографический материал. Использование карт более мелкого масштаба нецелесообразно, так как они не позволяют получить достоверный материал о местности. Наряду с картами могут использоваться материалы съемки поверхности Земли, выполняемой со спутников. [27]
Рельеф местности на топографических картах и планах изображают горизонталями. На картах более мелких масштабов для большей наглядности при изображении рельефа применяют отмывку и штриховку. [28]
На рис. XI.34 приведен чертеж деревянной стропильной фермы. На чертеже дана геометрическая схема в более мелком масштабе и необходимые сечения. [29]
Поверхностный потенциал зависит от строения поверхности, и в металлическом кристалле каждой кристаллической грани соответствует свое значение х - Химический же - потенциал ц является объемным свойством и не зависит от кристаллографической структуры поверхности. Различия работы выхода могут возникать и в более мелком масштабе. Поверхностный потенциал чувствителен к геометрической форме поверхности, особенно при малых радиусах, так как его получают интегрированием силы отображения ( - е2 / а) / 2 ( х2 2ах) электрона на расстоянии х от сферической поверхности радиуса а. Учет внутренней работы выхода может объяснить [11] несколько более 80 % всей величины р; следовательно, ф зависит от гладкости поверхности в атомном масштабе. Эти изменения работы выхода, обусловленные поликристалличностью и неправильностями геометрии поверхности, ведут к неоднородным поверхностям и вызывают неоднородные поля [13] при электронной эмиссии. [30]
Страницы: 1 2 3 4