Металломикроскоп - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Формула Мэрфи из "Силы негативного мышления": оптимист не может быть приятно удивлен. Законы Мерфи (еще...)

Металломикроскоп

Cтраница 1


Вертикальный металломикроскоп МИМ-6 позволяет исследовать непрозрачные объекты в светлом и - поляризованном свете, а также производить фотографирование структуры шлифов. Микроскоп МИМ-6 дает увеличение при наблюдении от 63 до 1425 раз, а при фотографировании от 86 до 1416 раз.  [1]

Устройство металломикроскопов приведено в руководствах к лабораторным работам по металловедению.  [2]

3 Схема макроструктуры коленчатого вала.| Микроструктура железа. [3]

Кроме обычного металломикроскопа, для исследовательских работ применяют электронный микроскоп, позволяющий изучать структуру металлов пр увеличении в 25 000 раз и более.  [4]

С помощью вертикального металломикроскопа МИМ-6 исследуют непрозрачные объекты в светлом и поляризованном свете, а также производят фотографирование структуры шлифов. К микроскопу прилагается комплект объективов и окуляров для различных увеличений.  [5]

6 Кривые охлаждения и нагревания, когда в системе не происходит фазовых превращений.| Кривая охлаждения чистого металла.| Кривая охлаждения бинарной металлической системы. [6]

Специальные приборы, получившие название металломикроскопов, позволяют получать фотографии таких протравленных шлифов. На них ясно видны кристаллиты, по виду и форме которых можно судить о том, является ли система однофазной или многофазной. Поскольку каждая фаза характеризуется особой формой кристаллитов, то по виду микрофотографий шлифов можно узнать, из скольких фаз состоит металлическая система. Важные сведения относительно характера химического взаимодействия между металлами можно получить на основании калориметрических измерений. Значительный тепловой эффект ( 10 ккал / г-атом растворенного металла и выше) свидетельствует об образовании интерметаллического соединения.  [7]

По расчету определяется потребное количество металломикроскопов ( горизонтальных и вертикальных) и шлифовально-полироваль-ных станков для изготовления макро - и микрошлифов.  [8]

Аналогичным путем, а также с помощью металломикроскопа можно определить характерные размеры частиц, применяя для этой цели специальные окуляры, снабженные линейкой с делениями или сеткой с определенными размерами ячейки.  [9]

10 Изменение размеров образцов в зависимости от температуры и продолжительности хромирования. [10]

Толщину хромовых покрытий на графите определяли металлографически на металломикроскопе типа МИМ-6. По характеру кривых, приведенных на рис. 2, видно, что толщина наносимого хромового покрытия возрастает с увеличением температуры и продолжительности процесса по параболическому закону.  [11]

В данной работе студенты более подробно знакомятся с устройством металломикроскопа и методикой работы на нем. Определяют величину зерна в заданном образце металла, увеличение микроскопа при фотографировании и измеряют глубину слоя ( азоти-ации или цементации) с помощью объектмикрометра и окулярмик-рометра.  [12]

При необходимости рассмотрения деталей структуры за пределами разрешающей способности оптических металломикроскопов ( 4 X х 10 - 4 мм) применяют электронный микроскоп, в котором изображение формируется при помощи потока быстро летящих электронов. Различают косвенные и прямые методы исследования структуры. Косвенные методы основаны на специальной технике приготовления тонких слепков - пленок ( реплик), отображающих рельеф травленого шлифа.  [13]

При необходимости рассмотрения деталей структуры за пределами разрешающей способности оптических металломикроскопов ( 4 X X 10 - 4 мм) применяют электронный микроскоп, в котором изображение формируется при помощи потока быстро летящих электронов. Различают косвенные и прямые методы исследования структуры. Косвенные методы основаны на специальной технике приготовления тонких слепков - пленок ( реплик), отображающих рельеф травленого шлифа.  [14]

При необходимости рассмотрения деталей структуры за пределами разрешающей способности оптических металломикроскопов ( 4ХЮ - 4 мм) применяют электронный микроскоп, в котором изображение формируется при помощи потока быстро летящих электронов. Различают косвенные и прямые методы исследования структуры. Косвенные методы основаны на специальной технике приготовления тонких слепков - пленок ( реплик), отображающих рельеф травленого шлифа.  [15]



Страницы:      1    2    3    4