Cтраница 1
![]() |
Схема голографирования трехмерных рассеивающих объектов ( а и восстановления их изображений ( б ( 1 - 2 - основные лучи. 3 - 4 - лучи 2-го порядка.| Схема голографической интерферометрии. [1] |
Метод голографической интерферометрии весьма эффективен как при исследованиях деформирования конструктивных элементов при статическом нагружении, так и при изучении их вибрации и деформировании при динамических нагрузках. Метод позволяет получать картину термодеформирован-ного состояния элементов [3], в том числе при их неравномерном быстром нагреве и охлаждении. Следует напомнить о том, что методы обычной тензометрии с помощью тензорезисторов не всегда дают возможность решить эту задачу на таких быстронагреваемых объектах, как лопатки газовых турбин. [2]
Метод голографической интерферометрии разработанный в начале 60 - х годов, завоевал признание практически во всех областях науки и техники и в частности позволяет исследовать динамичный процесс массообыена в многокомпонентных системах с использованием лазера с импульсной генерацией. [3]
Метод голографической интерферометрии позволяет исследовать изменения ( например, деформацию), происшедшие в наблюдаемом объекте под каким-либо внешним действием. В основе регистрации таких малых деформаций лежит явление интерференции днух волн, существовавших в разные моменты времени. [4]
Метод голографической интерферометрии является весьма полезным также при исследованиях плазмы. [5]
![]() |
Схема установки для восстановления голограмм. [6] |
Метод голографической интерферометрии ( МГИ) основан на способности голограмм когерентно складывать комплексные амплитуды волн, попадающих на фотопластинку неодновременно, например спустя некоторое время друг после друга. [7]
Метод голографической интерферометрии основан на явлении интерференции света при совпадении двух когерентных лучей монохронического света, описываемого простой синусоидальной функцией и ориентированного в одной плоскости ( поляризованного света), попадающих на экран со сдвигом по фазе. Необходимое количество лучей может быть получено от лазеров. [8]
![]() |
Схема когерентного оптического анализатора. [9] |
Методом голографической интерферометрии можно контролировать также вибрации как зеркальных, так и диффузно-отражающих объектов произвольной формы, Результатом исследований является получение картин распределения амплитуд вибраций по поверхности объекта и в отдельных случаях количественная оценка амплитуд вибраций. [10]
Применение методов голографической интерферометрии при контроле поверхностей с регулярным микрорельефом ( рис. 44.6) упрощает процесс оптимизации эксплуатационных свойств деталей машин и приборов. [11]
Чувствительность методов голографической интерферометрии к перемещениям поверхности объекта резко зависит от направления перемещения. [12]
Рассмотрение методов голографической интерферометрии сфокусированных изображений с единичным увеличением показывает, что их чувствительность при контроле изменения формы объектов совпадает с чувствительностью, обеспечиваемой при использовании френелевских голограмм. Чувствительность голографической интерферометрии определяется соответствием количества интерференционных полос изменению длины оптического пути на трассе объект - голограмма и на практике при значительных изменениях длины оптического пути ( более 100 мкм) оказывается чрезмерно высокой, наблюдатель бывает не в состоянии разрешить соседние интерференционные полосы. Поэтому в ряде случаев возникает задача уменьшения чувствительности интерферометрического контроля изменения формы объектов. [13]
Для иллюстрации метода голографической интерферометрии применительно к диагностике плазмы можно указать работу [248], в которой двухволновой голографический интерферометр с восемью направлениями наблюдения служил для измерения 3D полей плотности и температуры в угольном дуговом разряде атмосферного давления. Согласно сведениям, приведенным в гл. [14]
Основным недостатком методов голографической интерферометрии является качественный характер информации, получаемой от объекта. Получение количественной информации требует громоздких математических вычислений и сложного аппаратурного решения измерительного устройства, что приводит в известной мере к увеличению погрешности и трудности получения измерительной информации в реальном времени. [15]