Cтраница 4
Выполнены работы по развитию интерференционно-оптических методов: муаровых полос и голографической интерферометрии. Впервые в нашей стране и за рубежом проведены исследования метода муаровых полос и проанализированы различные возможности этого метода с применением различных сеток: нанесенных на деталь, отраженных, преломленных, сеток, образованных различными интерференционными полосами. Развит метод муаровых полос с использованием отраженной сетки, разработаны отечественные установки и осуществлены исследования напряжений и деформаций в пластинчатых конструкциях типа крыльев и оперения летательных аппаратов. Позднее работы по развитию метода муаровых полос продолжились в направлении исследования циклических упруго-пластических деформаций в зонах концентрации напряжений металлических деталей и напряжений при повышенных температурах. Исследования в области голографической интерферометрии были направлены на получение информации, дополняющей данные фотоупругости. С помощью фотоупругости определяют напряжения в различных точках конструкций, однако деформации и перемещения определить по данным фотоупругости очень трудно, для этого требуются трудоемкие вычисления, включающие операции интегрирования экспериментальных данных. Разработаны методики использования голографической интерферометрии для определения перемещений на моделях из органического стекла и из эпоксидного фотоупругого материала. [46]
Рентгеновский метод определения напряжений основан на измерении расстояния между атомами кристаллической решетки с помощью монохроматического излучения. Находят применение также метод лаковых покрытий, метод муаровых полос, оптический метод, с помощью которого изучают возникновение и перемещение системы полос на прозрачной модели. [47]
Для замера деформаций применяется несколько различных методов. Далее будут рассмотрены оптический и рентгенографический методы, метод муаровых полос и метод лаковых покрытий. [48]
Переходя на язык анализа, можно сказать, что деформация определяется первыми производными от перемещений по координатам х и у. Муаровый метод, следовательно, неизбежно требует дифференцирования наблюдаемых функций перемещений. Такая операция связана, естественно, с потерей точности и накладывает ограничения на применение метода муаровых полос. Если деформации малы, полосы расположены редко. [49]
Переходя на язык анализа, можно сказать, что деформация определяется первыми производными от перемещений по координатам х и у. Муаровый метод, следовательно, неизбежно требует дифференцирования наблюдаемых функций перемещений. Такая операция связана, естественно, с потерей точности и накладывает ограничения на применение метода муаровых полос. Если деформации малы, полосы расположены редко. В пределах рассматриваемой области их будет мало, и средняя деформация, замеренная на больших отрезках, не дает достаточно полного представления о картине напряженного состояния. К тому же сами полосы оказываются размытыми, и очертить четко их положение и направление становится затруднительным. [50]
Линейные деформации определяются таким способом обычно довольно точно, однако так определять деформации сдвига практически трудно. В итоге метод муаровых полос в сочетании с поляризационно-оптическим методом оказывается наиболее эффективным средством решения плоских задач. При этом используются та же методика и те же самые уравнения, что и для метода сеток. Метод муаровых полос успешно применялся для решения как статических, так и динамических задач. Характерные примеры такого решения приведены в разд. [51]
Метод муаровых полос вследствие своего геометрического характера позволяет исследовать деформации независимо от физических свойств материала: упругие, вязкоупругие, пластические, деформации ползучести. К положительным сторонам метода относятся простота, наглядность, дешевизна оборудования. Исследования могут производиться как при нормальной, так и при высокой температуре, при статическом и динамическом нагружениях. Ограничения в применении метода муаровых полос сводятся к следующим: высокие требования к качеству изготовления сеток, необходимость затемнения помещения, трудности при исследовании криволинейных поверхностей. [52]