Метод - порошок
Cтраница 4
Рентгенографическое исследование Me2Pb ( CN) 2 методом порошка [117] показало, что его кристаллы построены аналогично Me2Sn ( CN) 2, однако полностью структура не определена. [46]
 |
Различные семейства и индексы атомных плоскостей для простой кубической решетки. [47] |
Допустим, что рентгенограмма исследуемого вещества снята методом порошка. [48]
 |
Рентгенограмма враще ния монокристалла.| Исследование структуры металла методом порошков. [49] |
В промышленности для исследования структуры кристаллов широко применяется метод порошков. Большинство технических материалов имеет именно такую поликристаллическую структуру. Поскольку в данном методе используются монохроматические лучи, то для наблюдения их интерференции на неподвижном образце нужно иметь достаточно большое количество кристалликов, ориентированных во всевозможных направлениях, чтобы первичный луч встретил на своем пути достаточное количество отражающих плоскостей. Пример таких следов показан на рис. 2.28. Только в случае очень крупных кристалликов ( размером свыше 0 01 мм) приходится вращать образец; при этом на пленке получаются равномерно зачерненные линии. Расположение дуг или колец на пленке является характерным для каждого кристаллического вещества и служит основой для расчета рентгенограммы. [50]
ДЕБАЯ - ШЕРРЕРА МЕТОД ( метод поликристалла, метод порошка) - метод исследования мелкокристал-лич. [51]
Порошки группы А являются по существу монокристаллами и метод порошков для них малопригоден. Обычные на порошковых диаграммах дуги состоят в этом случае из пятен. Для установления размера кристаллитов бывает целесообразна в этом случае съемка без вращения образца. [52]
Порошки группы А являются по существу монокристаллами и метод порошков для них мало пригоден. Обычные на порошковых диаграммах дуги состоят в этом случае из пятен. [53]
Тип решетки определяется вполне однозначно и в случае метода порошка ( конечно, при правильном индицировании рентгенограммы), так как эти погасания характерны для большой группы линий. Сложнее обстоит дело с погасаниями, которые связаны с присутствием плоскостей скользящего отражения и особенно винтовых осей, поскольку в этом случае анализируется только небольшая часть линий, к тому же с неблагоприятным фактором повторяемости. [54]
Дифракционная картина в рентгенофазовом анализе обычно регистрируется в условиях метода порошка дифрактометрически с помощью счетчиков рентгеновских квантов. [55]
 |
Коэффициент расширения стекла Sial при разных температурах.| Химическая устойчивость изделий из стекла. [56] |
ГОСТа 9111 - у 59, а также водоустойчивость методом порошков. [57]
Страницы: 1 2 3 4