Метод - реплика
Cтраница 1
Метод реплик нашел широкое применение для исследования морфологии полимеров в блоке, при этом чаще всего получают реплики со скола образца, Охлажденного ниже температуры хрупкости. Однако получение скола часто сопровождается искажением поверхности, например образованием систем трещин, внешне напоминающих сферолиты. Иногда, особенно при препарировании в условиях низких температур, вместо кристаллических образований в полимерах фиксируются кристаллы льда. [1]
Метод реплик для исследования сажснаполненных резин был применен Лэддом 19 в 1944 г. Он использовал двухступенчатые реплики, применив для первой ступени расплавленный клей Деко-тинского: поверхность разрушения образовывалась путем раскола замороженной резины. [2]
Метод реплик дает удовлетворительные результаты при величине структурных элементов не менее 10 нм. [3]
Метод реплик, передавая строение только видимой, геометрической поверхности частицы, не дает представления о ее внутренней структуре, которая может заметно отличаться от строения видимой поверхности вследствие прошедших реакций гидратации и гидролиза. Метод получения ультратонких срезов с поверхности твердого тела ( толщиной около 0 1 мкм) позволяет восполнить этот пробел и изучить и внутреннюю, и внешнюю истинную физическую структуру частиц. Для приготовления срезов применяют специальные приборы - микротомы и ультрамикротомы, в которых режущим инструментом является равномерно и точно движущийся нож из алмаза или зеркального стекла. [4]
 |
Углеродная реплика с кристаллов морденита. Оттенена платиной. [5] |
Метод реплик позволяет надежно определять форму и размеры кристаллов в порошкообразных препаратах и на сколах гранул. [6]
Метод реплик может применяться для двух различных целей: во-первых, для изучения рельефа поверхности как таковой, во-вторых, для исследования структуры образца по рельефу поверхности. В первом случае задача сводится только к получению препарата - самой реплики, которая должна точно воспроизводить рельеф исследуемой поверхности. Во втором случае нужно предварительно подготовить поверхность таким образом, чтобы ее рельеф полностью отражал структуру образца. [7]
Метод реплик был применен Роховыми [44, 45] для определения молекулярных весов силиконовых полимеров. Оттененные ураном кварцевые реплики были получены по двухступенчатому методу, в качестве негативного отпечатка применяли пленки желатины или нитроцеллюлозы. Образцы предварительно замораживали в жидком азоте. [8]
Метод реплик в просвечивающей электронной микроскопии, обладая существенным достоинством - высоким горизонтальным разрешением, в то же время имеет и недостатки - большое время измерения и необходимость уничтожения исследуемого образца. [9]
Метод реплик может с успехом применяться при изучении гетерогенных состояний. [10]
Метод реплик за последние годы был значительно усовершенствован и изменен, так как пленки нитрата целлюлозы не удовлетворяли многим специальным целям. Хайденрейх и Пек68 нашли, что метод комбинирования полистереновой пленки с тонким покрытием их кремнеземом, осажденным при испарении в условиях высокого вакуума, особенно верно отвечает металлографическим целям. [11]
Метод реплик является универсальным и его можно применять для изучения любого полимера, находящегося в твердом агрегатном состоянии [3], Но точность результатов, получаемых с помощью реплик, зависит от того, насколько полно поверхностный рельеф отображает морфологию, то есть существует проблема подготовки поверхности материала к репликации. Одннз жз способов изучения морфологии должмеров является травление поверхности образца щелочами, растворителями, парами растворителе. [12]
Метод реплик электронной микроскопии способен дать правильные, весьма точные картины микроструктуры стали. Это, в частности, доказывается близостью электронно-микроскопических и оптических данных для некоторых объектов. Электронная микроскопия благодаря высокому разрешению име-ет ряд преимуществ перед световой микроскопией при исследовании микроструктур и измерении их деталей. [13]
Методом реплик они установили, что после облучения в темноте при комнатной температуре кристаллов NaCl и КВг рентгеновскими лучами на поверхности граней кристаллов появляются мелкие кристаллиты, размеры которых увеличиваются в течение примерно 3 5 час. Это изменение структуры поверхности граней сопровождается изменением цвета кристалла. Кристаллиты, появившиеся после трехчасового облучения, обычно исчезают после пребывания препарата на воздухе в течение нескольких десятков дней, а также после прогревания при 300 в течение 10 мин. Исчезновение кристаллитов сопровождается восстановлением исходного цвета кристаллов. Таким образом, электронно-микроскопические наблюдения роста кристаллитов могут быть использованы для изучения поведения ионов в кристаллах галогенидов щелочных металлов. [14]
Методом реплик были изучены шлифы графита, предварительно подвергнутые катодному травлению. [15]
Страницы: 1 2 3 4