Cтраница 1
Метод осевого сечения во многих случаях дает более точные результаты, особенно при измерении элементов резьбы. Принцип этого метода заключается в том, что к измеряемому контуру вплотную придвигают лезвие измерительного ножа. На поверхности ножа нанесена тонкая риска параллельно лезвию на расстоянии 0 3 или 0 9 мм от последнего. Поверхность ножа с риской лежит в плоскости измерения. Для тел вращения ( цилиндры, резьбовые изделия, червяки) эта плоскость создает осевое сечение. [1]
Методом осевого сечения, когда к поверхности предмета придвигают без просвета лезвие ножа. На верхней ( рабочей) поверхности ножа, параллельно его лезвию, на расстоянии 0 3 или 0 9 мм нанесена риска. [2]
Методом осевого сечения, когда к поверхности предмета придвигают без просвета лезвие ножа. На верхней ( рабочей) поверхности ножа, параллельно его лезвию, на расстоянии 0 3 или 0 9 мм. [3]
Дополнительные штрихи на сетке служат для измерения методом осевого сечения с применением специальных измерительных ножей. [4]
Проекционный ( теневой) метод контроля размеров производительнее, чем метод осевого сечения, но уступает последнему в точности. Основная погрешность проекционного метода заключается в искажении изображения контура изделия, особенно гладких и резьбовых цилиндрических изделий. Одной из причин искажения изображения контура измеряемого изделия является недостаточная параллельность лучей пучка света оптической оси микроскопа. Вследствие этого при измерении цилиндрических изделий лучи пучка света, отражаясь от проверяемого цилиндра и попадая в объектив микроскопа, размывают границы изображения контура изделия, что приводит к нестабильности визирования контура изображения при измерениях. Для уменьшения этой погрешности микроскоп фокусируют не по изделию, а по поверочному валику; наивыгоднейший диаметр диафрагмы выбирают из таблиц, помещенных в инструкциях, которыми изготовители оснащают микроскопы. [5]
Штрихи 5 и б наносятся на сетках окулярных головок, предназначенных для работы методом осевого сечения. [6]
Штрихи 5 я 6 наносятся на сетках окулярных головок, предназначенных для работы методом осевого сечения. [7]
![]() |
Схема механотрона. [8] |
В большинстве микроскопов используется проекционный метод измерения ( в проходящем и отраженном свете), метод осевого сечения ( с помощью измерительных ножей) или контактный способ. Измеряемая деталь может базироваться в центрах или на стекле стола. [9]
Изображения контуров объекта при использовании проходящего света проектируются на визирный экран, а при работе в отраженном свете или методом осевого сечения - в поле зрения микроскопа. Отсчеты перемещения кареток производятся по шкалам, проектируемым на отсчетный экран. [10]
В комплекты приспособлений к измерительным микроскопам входят: объективы; окулярные головки; осветители к визирному микроскопу для работы п проходящем снизу и отраженном свете, а также с проекционной приставкой; приспособления для контактных измерений ( контактомеры ИЗО-1 и ИЗВ-21); накладные столы ( плоские и поворотные); делительные головки ( для микроскопа УИМ-21 выпускается измерительная бабка ИБ-21); проекционные приставки; фотоприставки; приспособления для установки и крепления измеряемых деталей; приспособления для работы методом осевого сечения. [11]
Инструментальные микроскопы предназначены для измерения линейных и угловых размеров объектов сложной конфигурации в прямоугольных и полярных координатах. Измерения могут производиться проекционным методом ( в проходящем и отраженном свете) и методом осевого сечения. [12]
Большинство измерительных микроскопов могут быть настроены для работы: в проходящем свете; в отраженном свете; методом проекций; методом раздвоенного изображения; методом осевого сечения; контактным методом и фотографирования. [13]
Положение бинокулярной насадки, наклон которой может меняться, позволяет наблюдателю работать сидя. Работа может производиться как в проходящем, так и в отраженном свете. Имеется возможность использовать метод осевого сечения. [14]