Cтраница 3
Существуют различные модификации метода сканирования, применяемые в основном для сокращения объема вычислений. Одна из таких модификаций заключается в том, что используется алгоритм с переменным шагом сканирования. Вначале величина шага выбирается достаточно большой, по возможности значительно превышающей требуемую точность определения положения оптимума, и выполняется грубый поиск, который локализует область нахождения глобального оптимума. После того как эта область определена, производится поиск с меньшим шагом только в пределах указанной области. Практически можно организовать целый ряд таких процедур последовательного уточнения положения оптимума. [31]
Существуют различные модификации метода сканирования, применяемые в основном для сокращения объема вычислений. Одна из таких модификаций заключается в том, что используется алгоритм с переменным шагом сканирования. Вначале величина шага выбирается достаточно большой, по возможности значительно превышающей требуемую точность определения положения оптимума, и выполняется грубый поиск, который локализует область нахождения глобального оптимума. После того как область определена, производится поиск с меньшим шагом только в пределах указанной области. Практически можно организовать целый ряд таких процедур последовательного уточнения оптимума. [32]
Обычно применяют два метода сканирования пятен: а) в отраженном и б) в проходящем свете. И снова только экспериментально можно решить, какой метод больше всего подходит для каждого конкретного определения. [33]
![]() |
Процесс поиска экстремума функции в безынерционном объекте. [34] |
Просмотр осуществляется либо методом сканирования, или последовательной оценки найденных величин, либо методом чисто случайного поиска, основанного на законе вероятностного распределения. [35]
![]() |
Примеры световой обработки площади фрагмента рисунка произвольной формы различными методами. [36] |
По сравнению с методом сканирования внутри контура этот метод обладает некоторыми преимуществами по производительности, но при обработке предполагает представление площадей произвольного вида элементарными фигурами, например прямоугольниками, треугольниками и так далее. [37]
Микроволновые голограммы регистрируются методом сканирования. Микроволновой приемник, перемещаясь в интерференционном поле, осуществляет поточечную регистрацию голограммы. Снимаемый с приемника сигнал управляет яркостью свечения лампы, излучение которой фокусируется на фотопленке. Эта фотопленка перемещается относительно лампы синхронно с перемещением приемника, но со значительно меньшей скоростью. Причем отношение скоростей перемещения фотопленки и приемника равно отношению длин волн излучения, используемого при реконструкции, и микроволнового излучения. Таким образом получается амплитудная голограмма, которая может быть реконструирована с использованием излучения видимого диапазона спектра. [38]
![]() |
К вычислению абсциссы т / i - v. [39] |
Обычно профиль строят методом шагового сканирования с набором в каждой точке не менее 1000 квантов. [40]
Отсюда следует, что метод сканирования является предпочтительной технологией, поскольку в нем максимальное пространственное разрешение будет определяться диаметром сфокусированного пучка, падающего на образец. Ионные пучки так же просто можно фокусировать и сканировать, как и электронные пучки, поэтому и метод ВИМС тоже может быть преобразован в сканирующую микроскопию. [41]
В работе [94] изложен метод сканирования трубопровода с использованием снаряда-профилемера, основанного на индуктивных преобразователях. [42]
В работе [94] изложен метод сканирования трубопровода с использованием снаряданпрофилемера, основанного на индуктивных преобразователях. [43]
![]() |
Примеры симплексов на плоскости ( с и в пространстве ( б. [44] |
Имеются и другие модификации метода сканирования, например сканирование по спирали ( рис. IX-21), за счет чего также удается сократить объем вычислений. При этом можно иногда предположить, что если при очередном витке спирали меньшее значение функции цели не найдено, оптимум расположен внутри данного витка. [45]