Метод - спекл-интерферометрия
Cтраница 1
Метод спекл-интерферометрии основан на регистрации на одну и ту же фотопластинку двух изображений объекта в различных состояниях ( например, исходном и деформированном) при освещении его лазерным светом. Возникновение спекл-эффекта обусловлено усреднением диффузно-когерентных волновых полей в плоскости изображения, причем возникающая при этом интерференционная структура модулируется микрорельефом поверхности, представляющим собой случайную функцию координат. [1]
 |
Классическое и регистрируемое изображение, а - классическая интенсивность изображения. б - регистрируемое изображение. [2] |
Метод спекл-интерферометрии основан на точных вычислениях спектральной плотности регистрируемого изображения. Следовательно, важно рассмотреть статистические свойства таких спектральных величин. [3]
Метод спекл-интерферометрии основан на регистрации на одну и ту же фотопластинку двух изображений объекта в различных состояниях ( например, исходном и деформированном) при освещении его лазерным светом. Возникновение спекл-эффекта обусловлено усреднением диффуз-но-когерентных волновых полей в плоскости изображения, причем возникающая при этом интерференционная структура модулируется микрорельефом поверхности, представляющим собой случайную функцию координат. [4]
Существо методов спекл-интерферометрии состоит в регистрации субъективных спекл-структур с последующим наблюдением в световом поле, рассеиваемом этими спекл-структурами при освещении их восстанавливающей волной, интерференционных полос ( так называемых полос корреляции интенсивности), возникающих в результате суперпозиции ( и интерференции) двух диффузно рассеянных волн. Обычно для наблюдения таких спекл-интерферограмм необходимо проводить пространственную фильтрацию поля, рассеиваемого двукратно экспонированной спекло-граммой. [5]
Ниже обобщается метод спекл-интерферометрии, основанный на регистрации спекл-картины в фурье-гоюскости), а также рассматривается возможность использования аналогичного подхода в топографической интерферометрии. [6]
При измерении смещений методом спекл-интерферометрии сигналом измерительной информации является относительно низкочастотная интерференционная картина), возникающая обычно в плоскости изображения при когерентной суперпозиции двух световых полей, диффузно рассеянных на фотографически зарегистрированных с пекл-структурах, соответствующих начальному и смещенному положениям объекта. Такая интерференционная картина образуется, как правило в том случае, если идентичные спеклы во взаимно смещенных спекл-полях хотя бы частично перекрываются. [7]
Фазовая информация может быть получена в рамках метода спекл-интерферометрии, однако путем значительно больших расчетных усилий. [8]
Именно это свойство спекл-структур определяет возможность реализации получивших широкое распространение методов спекл-интерферометрии. [9]
Выражение для отношения сигнала к шуму для отдельного кадра (9.6.28) выявляет некоторые интересные и важные свойства метода звездной спекл-интерферометрии. Важнее всего, что при неограниченном увеличении числа и фотособытий, приходящихся на один спекл, отношение сигнала к шуму приближается к единице. Таким образом, невозможно достичь отношения сигнала к шуму, большего единицы, при использовании одного кадра для определения спектральной плотности интенсивности изображения. [10]
Следовательно, при получении спеклограмм требования к обеспечению стабильности оказываются существенно более простыми, чем при регистрации обычных голограмм с независимым опорным пучком. Это обстоятельство является весьма ценным для практического использования спеклограмм, в частности при реализации методов спекл-интерферометрии. [11]
 |
Линии деформации, выявленные Д.К. Черновым при резке листа и пробивании отверстия. [12] |
В работе [215] была экспериментально изучена эволюция полей деформаций при распространении полосы Чернова-Людерса по поверхности образца из малоуглеродистой стали при его растяжении. I и их компонент их - иу, ориентированных соответственно параллельно и перпендикулярно направлению приложения нагрузки, использовали метод лазерной спекл-интерферометрии. Анализ полей смещения [215] позволил предложить оригинальную модель образования полос Чернова - Людерса. В соответствии с этой моделью полоса формируется в результате распространения аккомодирующих поворотов по образцу в тот момент, когда микросдвиги охватили его полностью. [13]
Наиболее важным преимуществом интерферометрии пятнистого пучка является смягчение жестких требований обычной голографии к изоляции от вибраций, а для некоторых объектов даже их полное исключение. Особенно это полезно при работе систем ГНК в реальных условиях испытаний. Важным достоинством метода фотографической спекл-интерферометрии является способность измерять составляющие напряжений или смещений в плоскости. [14]
 |
Схема регистрации объектного поля ( в н формирования ннтерферограмм ( б. 1 - овьект, 2 - фотопластинка Л Лг - лннэы. [15] |
Страницы: 1 2