Cтраница 4
В методе качания, к-рый является разновидностью метода вращения, образец не совершает полного вращения, а качается вокруг той же оси в небольшом угловом интервале. [47]
Более полную информацию о структуре кристалла получают методом вращения. С помощью этого метода определяют параметры элементарной ячейки. Дифрагированные лучи на фотопленке образуют линии, состоящие из отдельных пятен. Эти линии называются слоевыми. По расстояниям между этими линиями рассчитывают параметр решетки в направлении его оси вращения. [48]
Для гарантии равномерного прогревания образцов в термошкафу применяют метод вращения образцов во время старения. В этом случае каждый образец одинаковое время находится в определенном месте термошкафа. Подобные установки неоднократно описывались в литературе. В последней конструкции смена образцов не приводит, как это бывает у обычных термошкафов, к нарушению температурного режима. [49]
Первая-из-этих приведенных формул слегка видоизменяется для различных вариантов метода вращения. [50]
Станок предназначен для испытания шлифовальных кругов па разрыв методом вращения. [51]
![]() |
Схема рентгеновского анализа кристаллов по методу неподвижного монокристалла. [. [52] |
Схема рентгеновского анализа скость кристалла К, вра-кристалпов методом вращения. [53]
А, что и сделано на рис. 153 методом вращения. [54]
Согласно [19] ( 1937) исследованы монокристаллы [ э8 методом вращения и Вайсенберга при 103 С. [55]
Истинная длина искомого расстояния ( отрезок aKj) определена методом вращения. [56]
Основным методом съемки при структурном исследовании хорошо ограненного кристалла является метод вращения и его разновидности. Для определения периодов идентичности и проверки вида симметрии снимается несколько рентгенограмм качания. Если размеры элементарной ячейки оказываются сравнительно небольшими ( до 8 - 10 А - в случае кристаллов средней сингонии и до 5 - 6 А - в случае кристаллов низших сингонии), то далее - для определения пространственной группы - снимается рентгенограмма полного вращения. В противоположном случае пространственная группа определяется по серии рентгенограмм качания или по рентгенограммам, снятым одним из методов развертки слоевых линий. Последнее представляется наиболее целесообразным, так как индицирование рентгенограмм этого типа наименее трудоемко и наиболее надежно. [57]
![]() |
Различные плоскости, проведенные через атомы в кристаллической решетке. [58] |
В настоящее время для рентгеноструктурного исследования кристаллов наиболее широко используется метод вращения. При помощи часового механизма кристалл медленно вращается. Сбоку в камеру вводится монохроматический рентгеновский луч, который направляется перпендикулярно оси вращения. [59]
Метод неподвижного монокристалла сам по себе или в сочетании с методом вращения служит для определения структуры кристаллического вещества. [60]