Метод - холодная эмиссия
Cтраница 1
 |
Модель сингулярной ( а и вицинальной ( б поверхностей. [1] |
Метод холодной эмиссии заключается в удалении поверхностных атомов с острия при высокой напряженности электрического поля. [2]
Данные метода холодной эмиссии не дают указаний на такое сложное поведение, но результаты, полученные для системы W - N. [3]
Другим способом исследования работы выхода электронов является метод холодной эмиссии в приложенном электрическом поле. [4]
Сравнительно недавно появились результаты измерений работы выхода отдельных кристаллических плоскостей вольфрама, полученные методом холодной эмиссии, столь же многочисленные, как и полученные с помощью термоэлектронной эмиссии. К сожалению, этот метод сталкивается, по-видимому, с большими трудностями, чем любой другой, и поэтому результаты нескольких ранних экспериментов должны игнорироваться, поскольку не все трудности в свое время были правильно оценены авторами. [5]
Измерения подвижности, имеющие гораздо большее отношение к катализу, были проведены в высшей степени изящным образом [39] с помощью метода холодной эмиссии путем напуска газов-адсорбатов па одну сторону острия эмиттера. [6]
Несколько измерений работы выхода вольфрама, выполненных методом поверхностной ионизации, дают для плоскости ( 110) значения, которые ближе к полученным методом термоэлектронной эмиссии, чем методом холодной эмиссии. [7]
Наиболее полные данные о работах выхода с разных граней получены для вольфрама. В статье Херинга и Никольса [ 7а ] приведен обзор работ, посвященных термоэлектронным измерениям и их теоретической интерпретации. Недавно Дрекслером и Мюллером [ 7в ] методом холодной эмиссии были определены работы выхода для двух различных граней кристалла вольфрама. [8]
В-то же время относительно значения работы выхода плоскости ( НО), являющегося наибольшим, имеется резкое расхождение мнений. Большинство измерений для вольфрама проводилось методом термоэлектронной эмиссии и методом холодной эмиссии, но некоторые интересные результаты, особенно для плоскости ( НО), были получены методом поверхностной ионизации и методом контактной разности потенциалов. Имеется и некоторое число фотоэлектрических измерений. [9]
Грань ( 110) неизменно присутствует на оси вольфрамового острия, изготовленного для опытов по холодной или ионной эмиссии, на что указывает и появление темного центрального пятна на дифракционной картине. Если выход грани достаточно плоский, то отклонение сферичности на вершине острия значительно, что приводит соответственно к уменьшению напряженности поля вблизи этой грани и уменьшению числа электронов, попадающих на коллектор, следствием чего является завышенное значение работы выхода. Этот эффект хорошо известен исследователям, проводящим эксперименты по холодной эмиссии, но никто не пытался измерить его точно. Если принять, что напряженность поля на грани ( НО) на 20 % меньше средней, то на основании данных Янга и Мюллера правильное значение работы выхода будет равно 5 34 эВ, что находится в согласии с результатами, полученными другими методами. Другими словами, неопределенность напряженности поля, вызванная ее понижением вблизи острия образца, может объяснить, почему величина р ( ПО), измеренная методом холодной эмиссии, значительно больше получаемой другими методами. До тех пор пока степень уменьшения напряженности поля не будет вычислена или измерена на опыте, значение р ( 110), получаемое методом холодной эмиссии, нельзя считать достоверным. [10]
Грань ( 110) неизменно присутствует на оси вольфрамового острия, изготовленного для опытов по холодной или ионной эмиссии, на что указывает и появление темного центрального пятна на дифракционной картине. Если выход грани достаточно плоский, то отклонение сферичности на вершине острия значительно, что приводит соответственно к уменьшению напряженности поля вблизи этой грани и уменьшению числа электронов, попадающих на коллектор, следствием чего является завышенное значение работы выхода. Этот эффект хорошо известен исследователям, проводящим эксперименты по холодной эмиссии, но никто не пытался измерить его точно. Если принять, что напряженность поля на грани ( НО) на 20 % меньше средней, то на основании данных Янга и Мюллера правильное значение работы выхода будет равно 5 34 эВ, что находится в согласии с результатами, полученными другими методами. Другими словами, неопределенность напряженности поля, вызванная ее понижением вблизи острия образца, может объяснить, почему величина р ( ПО), измеренная методом холодной эмиссии, значительно больше получаемой другими методами. До тех пор пока степень уменьшения напряженности поля не будет вычислена или измерена на опыте, значение р ( 110), получаемое методом холодной эмиссии, нельзя считать достоверным. [11]
Страницы: 1