Прямой теневой метод
Cтраница 1
Прямой теневой метод и шлирен-метод используются для качественной оценки теплообмена. Интерферометрический метод широко применяется для количественных измерений. В [80] показано, что с помощью интерферометра можно устанавливать распределение температурных полей в сложных геометрических телах, создавать изменяющиеся краевые условия и решать задачи, недоступные для аналитических методов и расчета на ЭЦВМ. [1]
Прямой теневой метод и шлирен-метод Теплера предназначены для определения малых изменений показателя преломления прозрачных сред. Шлирен-метод позволяет определить первую производную, а прямой теневой - вторую производную показателя преломления. [2]
Прямой теневой метод предложен В. Д. Дворжаком в 1880 г. Он используется в основном для обнаружения и качественного исследования оптических неоднородностей. [3]
Прямой теневой метод и шлирен-метод используются для качественной оценки теплообмена. Интерферометрический метод широко применяется для количественных измерений. В [80] показано, что с помощью интерферометра можно устанавливать распределение температурных полей в сложных геометрических телах, создавать изменяющиеся краевые условия и решать задачи, недоступные для аналитических методов и расчета на ЭЦВМ. [4]
Прямым теневым методом регистрируется линейное смещение лучей света. Поскольку смещение пропорционально второй производной от плотности по координате, то метод чувствителен к сильным возмущениям. Чувствительность метода увеличивается при использовании параллельных пучков света. [5]
 |
Картины обтекания крыла.| Фотография вихревой области потока, заснятая методом светящейся точки с помощью применения алюминиевой пудры. [6] |
Недостатком прямого теневого метода является невозможность проведения количественных исследований структуры оптической неоднородности. [7]
Для прямых теневых методов разрабатываются ТОЧеЧНЫе ИСКрОВЫе раз - F - пленка, V - механи ческий затвор. [8]
 |
Картины обтекания крыла.| Фотография вихревой области потока, заснятая методом светящейся точки с помощью применения алюминиевой пудры. [9] |
Недостатком прямого теневого метода является невозможность проведения количественных исследований структуры оптической неоднородности. [10]
На рис. 11.2 показана принципиальная схема прямого теневого метода. Здесь 1 - точечный источник света, 2 - экран. Между ними помещается исследуемая неоднородность ( шлира) 3 с границами раздела АВ, параллельными плоскости ху и имеющая в направлении оси z бесконечно малую толщину. Если градиент показателя преломления дп / ду на всем протяжении шлиры остается постоянным, то все лучи отклонятся на одинаковый угол. В этом случае освещенность изображения неоднородности остается равномерной, за исключением крайних его участков. Такое отклонение лучей наблюдается, если вместо неоднородности 3 поместить оптический клин АВ с малым углом, например небольшую оптически однородную стеклянную пластинку, у которой обе поверхности хотя и плоские, но не параллельные друг другу. [11]
Метод регистрации процессов по существу является прямым теневым методом, основанным на зависимости проникающей способности рентгеновского излучения от локальной плотности исследуемой среды. В качестве приемника импульсного излучения при рентгенографирова-нии явлений взрыва и удара применяется высокочувствительная рентгеновская пленка. [12]
 |
Картины обтекания крыла.| Фотография вихревой области потока, заснятая методом светящейся точки с помощью применения алюминиевой пудры. [13] |
На рис. 4 - 36 представлены для сравнения фотографии обтекания двухмерного профиля крыла, отснятые на интерферометре и с помощью шлирен-метода и прямого теневого метода. [14]
Оболочка, состоящая из горячего или сжатого воздуха, тоже приведет к появлению теней. Темный круг находится вне или внутри светлого, в зависимости от того, будет ли коэфициент преломления вещества, образующего оболочку, больше или меньше коэфициента преломления окружающей среды. Прямой теневой метод, однако, менее чувствителен по отношению к изменению оптической плотности, чем шлирен-метод. [15]
Страницы: 1