Абсолютный интерференционный метод
Cтраница 1
 |
Оптическая схема интерферометра. [1] |
Абсолютный интерференционный метод предназначен для измерения длины образцовых мер 1-го разряда и рабочих мер класса точности 00 в длинах световых волн. В интерферометре ( рис. 98) для абсолютных и относительных измерений ( интерференционного компаратора Кестерса) свет от источника 6, пройдя конденсор 5, поступает в коллиматор 3 - оптическую трубу, предназначенную для получения параллельного пучка лучей. Свет, идущий от призмы 1, разделяется на полупосеребренной полупрозрачной стеклянной пластине 10 на два потока. [2]
Абсолютный интерференционный метод позволяет с помощью специальных бесконтактных интерферометров производить измерение объектов непосредственно в длинах волн. [3]
При абсолютном интерференционном методе измерений длина измеряемой меры определяется непосредственно по числу полуволн однородного ( монохроматического) света, соответствующему данному размеру. Трудностью таких измерений является подсчет большого числа интерференционных полос. Полосы нужно отсчитывать от базы, в качестве которой служит поверхность стеклянной пластины и к которой притерта измеряемая мера, до свободной поверхности этой меры. [4]
Измерение плиток абсолютным интерференционным методом производится с помощью так называемых интерференционных компараторов ( фиг. [5]
Образцовые концевые меры 1-го разряда поверяют абсолютным интерференционным методом, используя вторичные эталоны длины волн. Эти меры применяют для поверки образцовых концевых мер 2-го разряда. Рабочие концевые меры класса 0 поверяют по образцовым концевым мерам 1-го разряда. [6]
Аттестация концевых мер по 1-му разряду производится абсолютным интерференционным методом, допускающим непосредственное сличение длины измеряемой меры с длиной световой волны. Измерение производится на интерференционных компараторах, сосредоточенных в органах Комитета по делам мер и измерительных приборов при Совете Министров СССР. [7]
Концевые меры 1-го разряда длиной до 100 мм аттестуют абсолютным интерференционным методом, например с помощью интерференционного компаратора Кестерса. Концевые меры 3-го разряда длиной до 100 мм аттестуют относительным интерференционным методом по мерам не ниже 2-го разряда на контактном интерферометре Уверского. [8]
Для выполнения более точного градуирования рекомендуется: иметь ступеньку на поверхности одного образца, аттестация которой производится абсолютным интерференционным методом; высота ступеньки может быть в этом случае менее 1 мк. [9]
Высота этой ступеньки в зависимости от требуемой точности измеряется одним из оптических методов: методом светового сечения, если высота ступеньки должна соответствовать 4 - 9-му классу чистоты, или абсолютным интерференционным методом, если градуирование производится для классов чистоты выше 9-го. [10]
Абсолютный интерференционный метод осуществляется с помощью интерференционного компаратора ( фиг. В нем пучок параллельных лучей определенной длины волны ( одного цвета) разделяется наклонной пластиной 1 на два пучка. [11]
Так, на длине 50 мм нужно отсчитать около 200 000 полос. Абсолютный интерференционный метод осуществляется с помощью интерференционного компаратора или с помощью интерференционного компаратора со счетчиком интерференционных полос. [12]
Абсолютный интерференционный метод осуществляется компаратором Кестерса ( фиг. В нем пучок параллельных лучей определенной длины волны ( одного цвета) разделяется наклонной пластиной 1 на два пучка. После нескольких отражений пучки вновь соединяются и интерферируют между собой. Интерференционная картина рассматривается непосредственно глазом через щель 5; поверхности стола и плитки кажутся пересеченными каждая системой полос б, сдвинутых одна относительно другой. Величина сдвига выражает дробную долю общего числа длин полуволн света, заключающихся в длине плитки. [13]
Свойство притираемое используется лишь при аттестации мер абсолютным интерференционным методом, так как наборы мер имеют градации толщин, позволяющие не прибегать к составлению блоков. [14]
Она может быть также использована при градуировке шкал электромеханических профилографов, допускающих измерения, когда игла неподвижна При весьма точных оценках вертикальных масштабов рекомендуется аттестовывать ступеньку абсолютным интерференционным методом. [15]
Страницы: 1 2