Cтраница 1
![]() |
Зависимость коэффициента отражения от толщины плоского слоя для двух диэлектриков.| Зависимость коэффициента прохождения от толщины плоского слоя для значений tgS. [1] |
Амплитудный метод применим в случае измерения однородных изотропных сред с постоянными рассеивающими свойствами поверхности и основан на измерении ослабления прошедшей сквозь материал электромагнитной волны. [2]
![]() |
Методы регулирования тока тиристора. а - амплитудный. б - амплитудно-фазовый. [3] |
Амплитудный метод обеспечивает изменение момента включения тиристора tBKJI в течение положительного полупериода и - при изменении напряжения управления му, приложенного к управляющему электроду. Так же как в тиратроне, увеличение ы, приводит к уменьшению напряжения включения тиристора ывкл. На интервале каждого полупериода синусоидального анодного напряжения при заданной функции управления ыу ( t) тиристор включается, а в момент изменения знака и - отключается. [4]
![]() |
Амплитуда электромагнитной волны перед слоем с инородным включением на различной глубине ( указана на кривых. [5] |
Амплитудный метод часто применяется для контроля однослойных конструкций, находящихся на металлической подложке. [6]
Амплитудный метод основан на регистрации изменений амплитуды отраженной от контролируемого объекта волны. [7]
Амплитудный метод широко применяется при радиоизотопном анализе проб с суммарной активностью более 10 - 8 Ки / пре-парат. Погрешность анализа существенно зависит от состава нуклидов в пробах. [8]
![]() |
Зависимость коэффициента отражения от толщины плоского слоя для двух диэлектриков.| Зависимость коэффициента прохождения от толщины плоского слоя для значений tg5. [9] |
Амплитудный метод применим в случае измерения однородных изотропных сред с постоянными рассеивающими свойствами поверхности и основан на измерении ослабления прошедшей сквозь материал электромагнитной волны. [10]
Амплитудный метод прохождения ( или амплитудный теневой метод) ( рис. 2.4, а) основан на регистрации уменьшения амплитуды сквозного сигнала под влиянием дефекта, затрудняющего прохождение сигнала и создающего звуковую тень. Для контроля этим методом можно использовать тот же импульсный дефектоскоп, который включают по раздельной схеме, причем излучающий и приемный преобразователи располагают по разные стороны от ОК. Иногда применяют специализированные более простые по схеме приборы. [11]
Амплитудный метод контроля основан на регистрации интенсивности прошедших через изделие или отраженных от него мик рорадиоволн. Измеряемыми величинами при амплитудном методе контроля являются коэффициенты прохождения и отражения, по казатель затухания. Эти коэффициенты связаны с диэлектрической проницаемостью и толщиной стенки контролируемого изделия. [12]
Амплитудный метод измерения расхода жидкостей с помощью ЯМР основан, как было указано, на зависимости амплитуды сигнала резонансного поглощения от скорости течения жидкости внутри катушки радиочастотного контура или, иными словами, на различии между статическим временем релаксации Т и наблюдаемым в случае протекания жидкости через катушку. Впервые на зависимость амплитуды сигнала ЯМР от скорости движения жидкости внутри радиочастотной катушки было указано в работе Суриана ( 1951 г.), однако эта работа носила в основном описательный характер. Более подробно эти вопросы рассмотрены в работах Гринкевича и Валюги. [13]
Амплитудный метод регулирования среднего значения анодного тока обеспечивает изменение угла аЕКЛ от нуля до я / 2, поэтому возможно лишь двукратное изменение среднего напряжения на нагрузке. [14]
Достоинством амплитудного метода является простота конструкции и настройки приемоизлучающего тракта. Недостатком является невысокая чувствительность метода к структурным изменениям внутри изделия. [15]