Фотографический метод - спектральный анализ - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Оригинальность - это искусство скрывать свои источники. Законы Мерфи (еще...)

Фотографический метод - спектральный анализ

Cтраница 1


Фотографический метод спектрального анализа, несмотря на свою простоту, связан с большой затратой времени на обработку фотопластинок. Поэтому для быстрой сортировки сплавов применялись визуальные стилоскопы, мало чем отличавшиеся от первого спектроскопа Кирхгофа.  [1]

Однако фотографический метод спектрального анализа в отличие от фотоэлектрического способа часто не обеспечивает необходимой точности количественных определений. Многие ошибки фотографического метода обусловлены неоднократностью эмульсии фотопластинки, а также несоблюдением стандартных условий проявления и экспонирования фотопластинки.  [2]

О чувствительности фотографических методов спектрального анализа, Журн.  [3]

4 Градуировочный график в методе добавок. [4]

Наиболее существенным недостатком фотографических методов спектрального анализа является большая длительность определений.  [5]

Наиболее существенным недостатком фотографических методов спектрального анализа является большая длительность определений - для получения результата необходимо сфотографировать спектр, обработать фотопластинку и провести фотомет-рирование. Значительно более быстрыми являются методы, в которых применяется фотоэлектрическая регистрация интенсивности спектральной линии. В фотоэлектрических установках свет после диспергирующего элемента через специальную щель попадает на фотоэлемент, соединенный с накопительным конденсатором и далее с регистрирующим потенциометром. Шкала прибора показывает логарифм относительной интенсивности спектральной линии или непосредственно концентрацию определяемого элемента, в связи с чем фотоэлектрические установки иногда называют установками прямого счета.  [6]

При визуальных наблюдениях, как правило, пользуются электрическими источниками света типа дуги или искры ( применяемых для фотографических методов спектрального анализа [19]), хотя более спокойные источники улучшили бы услявия наблюдений при количественных определениях. Например, пламя [172, 173, 200] является настолько стабильным излучателем, что глаз наблюдателя занят только оценкой интенсивно-стей, тогда как резкие и зачастую нерегулярные вспышки спектральных линий от дуги и искры вызывают необходимость дополнительной тренировки для восприятия суммарного впечатления от мерцающих спектров. Однако пламя имеет сравнительно низкую температуру н поэтому обладает ограниченными возможностями возбуждения спектров.  [7]

8 Кварцевый спектрограф ИСП-28. [8]

Спектрограф ИСП-28 является модернизированной моделью спектрографа ИСП-22, который в течение длительного времени был наиболее распространенным и надежным прибором для фотографических методов спектрального анализа. Оба прибора имеют почти одинаковые оптические данные.  [9]

Спектрограф ИСП-28 является модернизированной моделью спектрографа ИСП-22, который в течение длительного времени был наиболее распространенным и надежным прибором для фотографических методов спектрального анализа. Оба прибора имеют почти одинаковые оптические данные. Конструктивно спектрограф ИСП-28 оформлен более удобно, но имеет несколько меньшую разрешающую способность.  [10]

Методику фотографического метода спектрального анализа можно было бы значительно упростить, если бы можно было непосредственно измерять интенсивность спектральных линий.  [11]

Одним из основных факторов, ограничивающих точность фотографических методов спектрального анализа, является, как известно, зернистая структура проявленных изображений спектральных линий. Этому условию соответствует увеличение высоты и ширины щели спектрографа. В эмиссионном спектрографическом анализе увеличение ширины щели спектрографа ограничено как необходимостью отделения аналитической линии от мешающих, так и отношение сигнал / фон, которое при ширине щели больше критической начинает уменьшаться, что уменьшит чувствительность определения. Поэтому в эмиссионном анализе работают обычно при критической ширине щели, а площадь изображения линии увеличивают за счет увеличения высоты щели.  [12]

По такому критерию метод фотографического спектрального анализа на 15 - 20 элементов, безусловно, лучше метода, позволяющего определить лишь 5 элементов. Но может оказаться, что определение остальных элементов, кроме этих пяти, потребителю методики ( прибора) не нужно или что точность фотографического метода спектрального анализа недостаточна. Следовательно, подход, ценный при химико-аналитических исследованиях или разработке методики ( прибора) впрок, и подход при выборе ее конкретного варианта, с учетом требований к методике в определенных условиях ее применения, осуществляются по разным критериям.  [13]

Разность плотности почернения аналитической пары линий AS Si - 52 ( где Si - почернение линий определяемого элемента и S2 - линии сравнения) служит мерой относительной интенсивности этих двух линий. Связь между Д5 и концентрацией определяемого элемента находят, фотометрируя линии спектров эталонных образцов, в которых элемент, подлежащий определению, содержится в различных, но точно известных концентрациях. Существует большое количество различных вариантов фотографического метода спектрального анализа, приспособленного к особенностям разнообразных аналитических задач.  [14]



Страницы:      1