Безэталонный метод

Cтраница 1

Безэталонный метод основан на сравнении амплитуды эхо-сигнала от непровара А с амплитудой эхо-сигнала от бесконечной плоскости АО, расположенной на той же глубине, что и непровар. В качестве такой плоскости следует использовать поверхность полки. [1]

Безэталонный метод может быть реализован с помощью дефектоскопов, имеющих калиброванный аттенюатор или какое-либо устройство для измерения амплитуд эхо-сигналов, например дефектоскопов УДМ или ДУК-66П. [2]

Контроль закладных деталей.| Зависимость относительной величины эхо-сигнала ДЛ от площади реального дефекта 5Д. [3]

Безэталонный метод основан на сравнении амплитуды эхо-сигнала от непровара А с амплитудой эхо-сигнала от бесконечной плоскости А0, расположенной на той же глубине, что и непровар. В качестве такой плоскости следует использовать поверхность полки. Безэталонный метод может быть реализован с помощью дефектоскопов, имеющих калиброванный аттенюатор. В связи с тем что этот метод основан на сравнении амплитуд эхо-сигналов от непровара А и плоскости АО, контролю должен предшествовать расчет зависимости & Af ( 2b) или ее экспериментальное построение. [4]

Определение периода кристаллической решетки алюминия методом съемки беь. [5]

Безэталонный метод определения постоянных решетки [ 137J основан на том, что существует постоянная линейная зависимость между диаметром дебаевского кольца на рентгенограмме и периодом решетки. [6]

Это безэталонный метод, к-рый можно рассматривать как простейший вариант кулонометрии. [7]

Распределение концентрации атомов натрия в верхних слоях атмосферы. а - по высоте. б - в разные дни. [8]

Такой безэталонный метод анализа, разумеется, всегда менее точен, чем анализ с использованием градуировочной кривой по хорошим образцам, когда погрешность может составить 1 % и даже меньше. В случае безэталонных анализов в зависимости от точности значений необходимых констант, а также от того, насколько хорошо принятые нами расчетные формулы соответствуют протекающим процессам, погрешности анализа могут быть значительно больше. [9]

Схема устройства для дифференциального измерения расширения образца. [10]

Среди безэталонных методов нашел широкое применение микрометрический метод, который является наиболее прямым из имеющихся в распоряжении исследователей методов определения коэффициентов расширения. Он позволяет непосредственно наблюдать за длиной образца при различных температурах. При правильном применении он дает достаточно точные результаты. [11]

Разработка безэталонных методов спектрального количественного анализа веществ, Отч. [12]

Рассмотрение возможностей безэталонных методов [1, 3, 10, 102] привело к выводу о том, что при их применении не исключается сравнение в конечном итоге с некоторыми веществами - носителями значений величин, характеризующих содержание компонентов. [13]

Расхождение результатов безэталонных методов изотопного спектрального анализа и масс-спектрометрического анализа обусловлено систематической ошибкой, которая вносится в основном из-за неточного знания контура линии РЬ206 4058 А и расстояний между отдельными компонентами с.т.с. аналитической линии. [14]

Зависимость относительной величины эхо-сигнала ДЛ от площади ре -, альното дефекта S для закладных деталей. [15]

Страницы: 1 2 3 4