Велосиметрический метод

Cтраница 1

Велосиметрический метод основан на изменении под влиянием дефекта скорости и пути распространения волн в ОК типа пластины. Он относится к группе методов прохождения. [1]

Велосиметрический метод применяют для выявления дефектов ( преимущественно расслоений и непроклеев) в неметаллических покрытиях и слоистых пластинках, а также контроля соединений в ОК с неметаллическими и металлическими слоями. При наличии двустороннего доступа целесообразно использовать второй и четвертый варианты метода. При доступе с одной стороны ОК используют первый и третий варианты. Этим вариантам свойственна мертвая зона. Двусторонние варианты мертвой зоны не имеют. [2]

Образец записи дефектов в сотовой панели. [3]

Велосиметрический метод использует влияние дефектов на скорость распространения упругих волн в изделии и длину пути волн между излучателем и приемником упругих колебаний. Дефекты регистрируют по изменению сдвига фазы принятого сигнала или времени распространения волны на участке между излучающим и приемным вибраторами дефектоскопа. Эти параметры не зависят от силы прижатия преобразователя к изделию, состояния акустического контакта и других факторов, поэтому метод отличается повышенной стабильностью показаний. [4]

Велосиметрический метод ( рис. 2.4, в) основан на регистрации изменения скорости упругих волн в зоне дефекта. Например, если в тонком изделии распространяется изгибная волна, то появление расслоения вызывает уменьшение ее фазовой и групповой скоростей. Это явление фиксируют по сдвигу фазы прошедшей волны или запаздыванию прихода импульса. Метод имеет несколько вариантов, реализуемых при одно - и двустороннем доступе к ОК, Его применяют для контроля изделий из полимерных композиционных материалов ( ПКМ) и качества соединения слоев в многослойных конструкциях. [5]

Велосиметрический метод ( особенно с двусторонним доступом к ОК) также пригоден для контроля ОК из ПКМ. Метод не требует применения контактных жидкостей. Как и при контроле УЗ-теневым методом, применяют приспособления, обеспечивающие соосность излучающего и приемного преобразователей, расположенных по разные стороны ОК. При работе непрерывными колебаниями дефекты отмечаются по изменению фазы принятого сигнала, при работе в импульсном режиме - по запаздыванию прошедшего через ОК импульса. Чувствительность зависит от толщины ОК, уменьшаясь с увеличением последней. При использовании велосиметрического метода с односторонним доступом к ОК для проверки всего сечения необходим последовательный контроль с двух сторон. [6]

Образец записи дефектов в сотовой панели.| Способы и варианты велосиметрического метода. [7]

Велосиметрический метод дефектоскопии основан на влиянии дефектов на скорость распространения упругих волн в контролируемой конструкции, а также на изменении пути волны между излучателем и приемником, вызванном наличием дефекта. [9]

Велосиметрическим методом могут быть обнаружены все показанные на рис. 4.16 дефекты в пределах доступных этому методу толщин. При контроле с двусторонним доступом дефекты выявляются во всех сечениях ОК, при одностороннем доступе со стороны покрытия - в основном в покрытии и клеевом соединении с каркасом. При контроле с односторонним доступом предельная толщина покрытия примерно та же, что и для им-педансного метода, с двусторонним - заметно больше. [10]

Второй вариант велосиметрического метода реализуется с использованием импульсного излучения. [11]

Схема велосиметрического метода [ IMAGE ] Схема велосиметрического метода при одностороннем доступе. при двустороннем доступе. [12]

Возможен импульсный вариант велосиметрического метода. В этом случае в меньшей степени скажутся интерференционные эффекты и сократится мертвая зона контроля. [13]

В некоторых случаях клеевые соединения контролируют велосиметрическим методом. В этом методе используется влияние дефектов на скорость распространения упругих волн в изделии и длину пути между излучателем и приемником упругих колебаний. Дефекты регистрируются по изменению сдвига фазы принятого сигнала или времени распространения волны на контролируемом участке. Эти параметры не зависят от силы прижатия преобразователя к изделию, состояния акустического контакта и других факторов, что повышает стабильность показаний. Для контроля используются указанные выше низкочастотные ультразвуковые приборы. [14]

Структурная схема дефектоскопа АД-10У. [15]

Страницы: 1 2