Метода - рентгеновский анализ
Cтраница 2
Хуанг [18] исследовал следующие многочисленные силикаты меди методами рентгеновского анализа: 1) гидратированные силикаты, приготовленные мокрыми методами, 2) сплавленные из смеси окислов меди и кремнезема и 3) гидратированные силикаты меди, встречаемые в природе. В дальнейших исследованиях Хуанг нагревал закись меди в герметично запаянной кварцевой трубке; исследование сплава после медленного охлаждения показало присутствие закиси меди и а-кристобалита, силикат меди снова не был обнаружен. Хуанг сделал вывод, что силикаты меди при температуре выше 700 не существуют, и поэтому их присутствие в шлаках медной плавки совершенно исключается. [16]
Исследование изменений, сопровождающих это явление, по методу рентгеновского анализа показало, что отдельные маленькие кристаллики принимают иное расположение, что приводит к их упрочнению. При этом между кристаллическими зернами, которые сами по себе не меняются, по-видимому, возникают слои аморфной структуры. [17]
Диаграмма состояния системы ванадий - сера была исследована методами рентгеновского анализа и измерения упругости пара [ 270, с. При этом было установлено, что VS стабилен ( в присутствии серы) до 400 С, a V2S3 до 500 С. [18]
 |
Начальная область диаграммы состояния сплавов системы железо - азот. [19] |
Приведенная на рис. 84 [475] диаграмма состояния разработана методами рентгеновского анализа н контролируемого азотирования. [20]
Схематическая диаграмма состояния Be-Yb построена в работе [1] методами термического, металлографического и рентгеновского анализа трех сплавов. [21]
Приведенные результаты показывают, что в области многоцикловой усталости методы рентгеновского анализа не раскрывают так четко и однозначно механизм разрушения металлов и сплавов, как это имеет место при малоцикловой усталости. Характер зависимости ширины дифракционных линий от числа циклов нагружения определяется большим количеством факторов, что препятствует выявлению между этими двумя параметрами однозначной связи. [22]
Во всем интервале составов сплавы иттрия с платиной были исследованы в работе [1] методами рентгеновского анализа и определением температуры перехода в сверхпроводящее состояние. [23]
Теплоемкость может быть использована для установления структурных превращений, происходящих в материале, когда методы рентгеновского анализа не улавливают этих превращений. [24]
Сочетание методов высокотемпературной металлографии с другими приемами экспериментирования ( эмиссионной и электронной микроскопией, методами рентгеновского анализа, количественной металлографии и др.), позволяет, получать более детальные сведения о поведении изучаемых материалов. Следует отметить также успешное использование новых направлений и приемов высокотемпературной металлографии для исследования металлов и сплавов и весьма перспективных в развитии ряда отраслей техники металлических слоистых и волокнистых композиций, а также в других направлениях научных изысканий. [25]
Замечания о работе дифракционных решеток в области излучения 6 - 50 А / / Аппаратура и методы рентгеновского анализа. [26]
С этих позиций большое значение имеют приведенные выше результаты исследования характера структурных изменений в процессе трения скольжения методами рентгеновского анализа и измерения электросопротивления. Несмотря на то, что в первом случае исследовался слой толщиной 12 мкм, а во втором образцы толщиной 200 - 800 мкм, число циклов до разрушения по результатам обоих методов хорошо согласуется. [27]
Исследованиями изменения электросопротивления и постоянной Холла в зависимости от деформации и термической обработки [23, 24], а также методами рентгеновского анализа [16, 25, 26] установлено наличие в сплавах системы Аи - Pd упорядочения в области составов 15 - 80 ат. Максимум упорядочения отвечает 40 ат. Согласно [26] пластическая деформация резко уменьшает параметр ближнего порядка сплавов. [28]
Работа [2] выполнена методами рентгеновского анализа и измерением упругости пара в интервале 880 - 1073, работа [3] - методами рентгеновского анализа. [29]
Макет рентгеновского спектрометра-монохроматора с дифракционной решеткой и ионизационной регистрацией для области спектра 10 - 550 А / / Аппаратура и методы рентгеновского анализа. [30]
Страницы: 1 2 3 4