Cтраница 1
Методы рентгенографии [33-37] относятся к наиболее точным методам исследования кристаллической структуры твердых гел, не требующим, как правило, тщательной подготовки образца, и, что особенно важно, являются неразрушающими. Тонкие поверхностные пленки толщиной до 100 нм могут изучаться с применением электронографии [38-40], однако процесс подготовки образца оказывается довольно сложным, так как пленку необходимо отделить от подложки и укрепить на сетчатом держателе электронного микроскопа. [1]
Методы рентгенографии [ 3J ] и электронографии [ За ] позволяют исследовать геометрическое строение макромолекул в кристаллических полимерах. Эти методы структурного анализа применяются к полимерам в общем с не меньшим успехом, чем к низкомолекулярным соединениям. [2]
Методами рентгенографии, дериватографии и ИК-снсктроскопяи изучен процесс формирования фазового состава молпбдага хрома, гшпе. Найдено, что кристаллическая структура Сг2 ( МоО4) 3 окончательно формируется при температурах прокаливания выше 500 С. [3]
Методами рентгенографии и электронной микроскопии установлено, что в мембране диска при освещении происходят структурные изменения, масштаб которых пропорционален времени: экспозиции. Суть этих изменений состоит в транслокации родопсина. [4]
Методами рентгенографии и электронной микроскопии установлено, что в мембране диска при освещении происходят определенные структурные изменения, масштаб которых пропорционален времени экспозиции. Суть этих изменений состоит в транслокации родопсина. Такого рода транслокации имеют характер фазовых переходов. [5]
Методами рентгенографии кристаллов установлено, что в ряду Li - Na - К размеры ионов увеличиваются. Изучение же чисел переноса тех же ионов в воде и скоростей их передвижения обнаруживает рост этих величин в ряду Li - Na - К, что свидетельствует об уменьшении размеров ионов. [6]
Методами рентгенографии кристаллов установлено, что в ряду Li - Na - К размеры ионов увеличиваются. Изучение же чисел переноса тех же ионов в воде и скоростей их передвижения обнаруживает рост этих величин в ряду Li - Na - К, что свидетельствует об уменьшении размеров ионов. [7]
Более подробно методы рентгенографии и нейтронографии рассматривают в курсе кристаллохимии, а в данном учебнике будет изложен лишь метод газовой электронографии. [8]
После того как методы рентгенографии, электронографии и инфракрасной спектроскопии позволили определять валентные углы с высокой точностью, применение для этой цели дипольных моментов отпало. [9]
После того как методы рентгенографии, электронографии и инфракрасной спектроскопии позволили определять валентные углы с высокой точностью, применение для этой цели дипольных моментов отпало. [10]
![]() |
Изменение второго момента в эпоксидной смоле в процессе отверждения. [11] |
В отличие от метода рентгенографии изучение ЯМР полимеров позволяет получать сведения об их динамической степени кристалличности. В аморфной части этих полимеров при температурах выше Т молекулярное движение сужает линию поглощения, поэтому линия ЯМР как бы состоит из узкой и широкой частей. [12]
![]() |
Зависимость времени корреляции политрифторхлорэтилена от обрат-ой температуры.| Линия ЯМР ( о и ее производная ( б в кристаллическом полимере. [13] |
В отличие от метода рентгенографии изучение ЯМР полимеров позволяет получать сведения об их динамической степени кристалличности. [14]
![]() |
Влияние кратности термовытяжки и условий ее проведения на характеристики волокон сухого метода формования. [15] |