Фотографическая метода - анализ
Cтраница 1
Фотографические методы анализа различают по способу подготовки пробы и по способам и приемам построения аналитических градуировочных графиков. Из их большого разнообразия рассмотрим кратко только наиболее простые и часто применяемые на практике. [1]
Фотографические методы анализа остаются до настоящего времени основными для самых разнообразных объектов. Но при анализе металлов и сплавов обычно нужна высокая точность и скорость. Наиболее полно удовлетворят этим требованиям применение современных квантометров с фотоэлектрической регистрацией спектра. Большое количество однотипных образцов, поступающих на анализ, и быстрая подготовка их к анализу делают применение квантометров очень действенным. [2]
При фотографических методах анализа необходимо считаться со сплошным фоном, находящимся под спектральной линией. В случае фотоэлектрических методов выходная щель спектрографа всегда берется шире входной щели; поэтому фотоэлектрический приемник принимает излучение спектральной линии и сплошного фона в некоторой области около этой линии. [3]
Например, в фотографических методах анализа обычно изучают распределение анализов по величине AS, рассматривая AS как независимую случайную переменную. Разность почернения AS связана простым соотношением с интенсивностью аналитических линий: lg R lg ( / / / 0) AS / Y - Следовательно, по отношению к случайной переменной R найденное нами нормальное распределение будет логарифмически-нормальным. [4]
Для лабораторий больших предприятий фотографические методы анализа могут оказаться недостаточно быстрыми и производительными. Аналитические лаборатории ряда крупных промышленных предприятий черной и цветной металлургии пользуются преимущественно квантометрами. В комплекте со стабильным источником света квантометры позволяют выполнить количественный анализ с меньшими погрешностями, чем спектрографы. Скорость квгнтометрических определений значительно выше. [5]
Необходимо отметить, что все современные фотографические методы анализа основаны на измерении освещенности. [6]
Подробно вопрос о построении градуировочных графиков при фотографических методах анализа разобран в книге В. К. Прокофьева [21] и мы на нем здесь останавливаться не будем. [7]
 |
Аналитическая прямая для метода добавок. [8] |
Указанные недостатки не позволяют сократить существенным образом затраты времени при фотографических методах анализа, иначе говоря, повысить экспрессность анализа. Между тем современная скоростная металлургия требует проведения количественного определения за 3 - 5 минут при повышении точности определения до относительной ошибки в 1 % от определяемой величины. [9]
Графическое изображение концентрационных зависимостей в нормальных параметрах, получившее распространение в фотографических методах анализа [19], при визуальном количественном анализе применяется несколько реже, но это происходит скорее но традиции, чем по соображениям целесообразности. [10]
Практика заводских лабораторий, использующих спектральный анализ как экспрессный анализ, настоятельно требует не только повышения точности, но и повышения быстроты анализа. Фотографические методы анализа дают в среднем точность анализа 3 % и в отношении экспрессности не могут быть признаны вполне удовлетворяющими нужды текущего контроля технологии многих современных производств, в частности в металлургии и машиностроении. [11]
Поясним сказанное следующими примерами. При фотографических методах анализа наклон градуировочного графика, построенного в координатах ( S, IgC), определяется ( помимо прочих факторов) контрастностью пластинки у. Поэтому переход на более контрастные пластинки выгоден. Однако если более контрастные пластинки обладают худшей однородностью по сравнению с менее контрастными, то их применение может не повысить, а снизить точность. [12]
Кроме условий возбуждения, при качественном анализе следует внимательно следить и за условиями наблюдения спектров. При фотографических методах анализа, а именно эти методы наиболее пригодны при качественном анализе, желательно использование высокочувствительных фотоматериалов высокого качества. Проявление фотопластинок следует производить при оптимальных условиях, имея в виду, что плотность почернений искомых линий может лежать в области недодержек. [13]
Спектрометрический метод анализа отличается от спектрографического метода способом измерения выходного аналитического сигнала и основан на фотоэлектрической его регистрации. В основе спектральных методов с фотоэлектрической регистрацией спектров лежат те же зависимости, которые используются в визуальных и фотографических методах анализа. В современных приборах применяются такие радиотехнические схемы, которые представляют выходной сигнал как в виде графической зависимости величины, пропорциональной интенсивности спектральной линии от концентрации определяемого элемента, гак и в виде цифровой записи. [14]
Сравнительно с другими разделами прикладной спектроскопии эмиссионный спектральный анализ получил особенно широкое практическое применение и развивается по различным направлениям. Нет необходимости рассматривать их здесь подробно, но следует отметить, что как по аппаратуре, так и по аналитическим возможностям существенно различаются между собой визуальные и фотографические методы анализа. Фотографическим нутем можно зарегистрировать любую область спектра, наибольшее же распространение фотографические методы анализа получили для ультрафиолетовой области, поскольку там расположены чувствительные линии большинства химических элементов. [15]
Страницы: 1 2