Cтраница 1
Тестовые методы широко применяются не только при поверке средств измерительной техники, но и для повышения точности измерений. Все эти методы основаны на введении в систему объект измерения - средство измерений определенной избыточности, позволяющей получить дополнительную информацию и об объекте измерения, и о погрешностях средства измерений. Конечной целью применения таких методов является получение на их основе высокоточной измерительной системы, состоящей из модульных блоков с большими погрешностями. Как это заманчиво: соединив грубые приборы и преобразователи в систему, подключив ее к ЭВМ с тестовым алгоритмом работы, получаем прецизионную ИИС. [1]
Тестовые методы позволяют существенно снизить названные выше погрешности, но при этом возрастает высокочастотная случайная погрешность. [2]
Тестовые методы диагностирования основаны на подаче стимулирующих воздействий. При диагностировании систем уцравления и ЭВМ в заданные точки схемы подаются электрические сигналы, регистрируются и анализируются отклики на них. В настоящее время программное обеспечение для этих целей создается в процессе разработки систем управления и потребитель получает пакет диагностических программ. [3]
![]() |
Зависимость показателя сложности кристалла БИС от площади его активной части.| Зависимость коэффициента температурного ускорения от температуры кристалла. [4] |
Таким образом, тестовые методы существенно упрощают процедуру оценки надежности БИС и обеспечивают получение информации о количественных показателях надежности с учетом показателей качества. [5]
Как известно, тестовые методы позволяют существенно уменьшить систематические и случайные низкочастотные погрешности всего измерительного канала. При этом не требуется отключения измеряемой величины от входа ИИС для коррекции погрешностей измерительного канала в процессе эксплуатации. И хотя использование тестовых методов приводит к некоторому усилению случайной высокочастотной составляющей погрешности измерительной системы, сочетая тестовые методы с теми или иными схемными или алгоритмическими способами уменьшения случайных высокочастотных погрешностей, можно достичь высокой точности средств измерений. [6]
Таким образом, тестовые методы поверки основаны на использовании точных образцовых средств измерений, позволяющих выявить систематическую погрешность. [7]
Таким образом, сочетая тестовые методы измерения со способами уменьшения случайных высокочастотных погрешностей, можно существенно снизить суммарную погрешность ИИС, в которой использован частотный принцип измерения и передачи информации. [8]
![]() |
Основные работы по анализу образцов ( проб отходов. [9] |
Скрининговый анализ относится к быстрым тестовым методам. [10]
Для прогнозного диагностирования ТС используют тестовые методы, например: осмотры, проверки, испытания и исследования в период ремонта объекта. Следует отметить, что для получения правильного прогноза, кроме данных диагностирования, следует учитывать ретроспективные данные. [11]
Вот на какие чудеса способны тестовые методы повышения точности, используемые также для уменьшения динамических погрешностей измерений, для решения задач диагностики и прогнозирования метрологических характеристик систем. [12]
Для устройств и СПУ, как правило, используют тестовые методы. [13]
Предлагаемый метод позволяет при сохранении метрологической надежности ИИС, обеспечивающейся тестовыми методами повышения точности измерений или методами образцовых мер, повысить ее быстродействие и дает возможность работы в динамическом режиме. [14]
Для оценки надежности полупроводниковых и гибридных БИС и МСБ весьма эффективны тестовые методы. Они основаны на определении количественных показателей надежности БИС ( МСБ) по показателям надежности структурных элементов, получаемых в результате их испытаний в составе тестовых схем. В качестве тестовых ИМС используют те же тестовые схемы, что и для контроля качества ( см. § 2.4), Поскольку тестовые ИМС содержат однотипные структурные элементы, их количество в такой ИМС достигает сотен и тысяч штук. Тем самым обеспечивается необходимый объем испытаний для получения достоверной информации при статистической обработке результатов испытаний. Тестовые ИМС подвергаются испытаниям в нормальном режиме или ускоренным испытаниям. [15]