Интерференционная метода

Cтраница 2

Применяя интерференционные методы, методы, основанные на смещении изображения, и некоторые другие способы, изложение которых выходит за рамки данного Руководства, можно без труда повысить абсолютную точность рефрактометрических измерений до 10 - 7 - 10 - 8, а количество необходимого для работы вещества уменьшить до нескольких долей миллиграмма. [16]

Большое значение имеют интерференционные методы в метрологии, где с их помощью оказывается возможным использовать в качестве эталона длины длину световой волны. Преимущество применения световой волны в качестве эталона длины состоит в том, что этот эталон общедоступен, легко воспроизводится и не подвержен старению. [17]

В настоящее время интерференционные методы контроля широко применяются для исследования плоских поверхностей. [18]

Отметим, что обычные теневые и интерференционные методы, широко использующиеся для контроля зеркал нормального падения, при переходе к скользящему падению теряют свою чувствительность в ( 1 / sin 0) раз ( 0 - угол скольжения) и становятся малопригодными. [19]

На этом основаны интерференционные методы контроля плоскостности поверхностей. [20]

Обычно на опыте интерференционными методами определяют распределение плотности газа в релаксационном слое и тем самым ширину слоя Д, а затем сравнивают измеренные величины с расчетными или сразу же оценивают время релаксации по формуле Дд; иг. [21]

В этом параграфе рассмотрим интерференционные методы, которые позволяют получить наибольшую точность, а в ряде случаев являются единственно возможными. Сущность интерференционных методов состоит в определении разности хода, вносимой образцом, когда его помещают в интерферометр. [22]

Оптическая схема с ИФП для измерения длин. [23]

Во многих случаях применяются относительные интерференционные методы, которые основаны на сравнении длин, находящихся в приблизительно кратном отношении. Эти методы дают возможность с высокой точностью измерять большие длины, представляющие интерес в том числе и для геодезической практики. [24]

С этой точки зрения дифференциальные интерференционные методы аналогичны теневым ( гл. Кроме того, как и в теневых методах, интерференционные полосы определяются градиентом деформированного волнового фронта. [25]

Во многих случаях применяются относительные интерференционные методы, которые основаны на сравнении длин, находящихся в приблизительно кратном отношении. [26]

В промышленности имеют применение сравнительные интерференционные методы, допускающие сличение длины измеряемой концевой меры с длиной заранее измеренной концевой меры того же номинального размера, но высшего разряда. [27]

Теперь ясно, что теневые и интерференционные методы пригодны для исследования только таких пограничных слоев на границе или стенке модели, толщина которых во много раз больше ширины дифракционной зоны. С другой стороны, очень тонкие пограничные слои в жидкостях подобны щелям, которые на теневой картине дают дополнительные дифракционные линии. [28]

Изменение плотности газа измеряют интерференционными методами, темп-ру или содержание к. [29]

Выше мы упоминали об оптических интерференционных методах [132, 133], применявшихся для изучения диффузионного пограничного слоя на электродах, когда кинетика электродного процесса определяется стадией массопереноса. Первое рефрактографическое исследование такого рода было выполнено Грабовой [369, 370] и относилось к растворению металлов. Как показали результаты, при расчетах по закону Фика предположение о линейном концентрационном профиле обычно не выполняется. [30]

Страницы: 1 2 3 4