Cтраница 3
Величину и знак остаточных напряжений обычно определяют механическими и рентгенографическими методами. [31]
Для оценки степени ориентации применяют в первую очередь рентгенографические методы ( ширина дуг, малоугловое рассеяние), а также оптические - по величине двойного лучепреломления. Так как оба индекса преломления для кристаллитов известны ( nv 1 618; nw 1 543), то ориентация может быть определена с помощью поляризационного микроскопа по углу гашения. [33]
Для изучения атомнокристаллической структуры твердых тел широко применяют рентгенографические методы исследования, позволяющие устанавливать связь между химическим составом вещества, его кристаллической структурой и свойствами. [34]
Сходство кристаллических структур триклин-ных полевых шпатов, установленное рентгенографическими методами, согласно Тейлору, Дарбиширу и Штрунцу17, настолько полное, что справедливость законов изоморфизма не вызывает здесь никаких сомнений ( см. А. Соотношения между физическими - свойствами, в частности оптическими характеристиками, и химическим составом установлены на богатом материале, представленном соответствующими кривыми, Зтолученными по данным универсального метода Федорова. [35]
Процесс образования псевдоморфоз вследствие дегидратации был частично изучен рентгенографическими методами на гидроокисях железа и щелочноземельных элементах. FeO ОН служит ортогексагональной осью Ь псевдо-морфной окиси железа, а ось Ь этой ячейки служит осью с окиси железа. [36]
В последнее время стали придавать чрезмерно большое зна чение рентгенографическим методам определения степени гр фитации. Несомненно, что эти методы представляют большую научную ценность, так как они позволяют определить степени упорядочения, уплотнения и укрупнения молекулярной и дис - j персной структур и таким путем глубже вскрыть механизм графитации. Однако для производства эти методы не имеют такого значения, которое им придают авторы. Это обусловлено в основном двумя причинами. Во-первых, предложенные до сих пор рентгенографические методы не дают возможности непосредственно определить показатели степени графитации в промышленном отношении. Во-вторых, разрешающая способность этих методов не достаточна и, во всяком случае, не больше, чем других методов, применяемых для той же цели. [37]
Глубокое изучение структуры комплекса карбамида с различными классами углеводородов рентгенографическими методами [ 5, 8, 15, 1б ] показало, что все полученные продукты обладают одинаковой кристаллической решеткой, как правило, в виде хорошо образованных длинных гексагональных призм. На рис. 2.1 показана структура кристаллов комплексов карбамида с различными классами углеводородов. Все комплексы, в отличие от тетрагональных призм карбамида, имеют гексагональную кристаллическую решетку. [38]
![]() |
Макрорешетка мартенсита. [39] |
Наконец, в исследованиях последних лет ( Ю. Д. Тяпкин) специальными рентгенографическими методами обнаружено, что до обособления решеток карбидные включения закономерно распределены внутри а-решетки, образуя как бы свою макрорешетку ( рис. 218), параметры которой измеряются сотнями ангстрем. [40]
Это состояние неупорядоченности противопоставляется упорядоченной структуре кристаллических силикатов, установленной рентгенографическими методами. Дифракция в трехмерных структурах с дискретными максимумами интерференции, подчиняющаяся основным уравнениям Лауэ и Брегга, в хаотических фазах не наблюдается. Выводы этих уравнений, основанные на вычислении характеристических функций распределения изотропных фаз, были сделаны Цернике и Принеси2 для газов и жидкостей, которые рассматриваются ими как конденсированные газы. [41]
Для измерения внутренних напряжений на глубине 3 - 10 мкм применяют рентгенографические методы. [42]
Металлографический способ определения текстуры пригоден для ориентировочных исследований и не может заменить рентгенографические методы. [43]
Физические свойства окиси графита, за исключением ее структуры, которая исследовалась рентгенографическими методами, были изучены чрезвычайно поверхностно. Измерения электросопротивления спрессованных порошков показали, что окись графита является плохим проводником электричества [437], хотя никаких систематических исследований зависимости сопротивления от содержания воды не проводилось. Измерения магнитных характеристик, выполненные на одном образце, а также на образце, который, по-видимому, был недостаточно окисленным [316], не обнаружили высокого диамагнетизма, свойственного графиту. [44]
Химические кристаллические соединения, приготовленные в таких небольших количествах, могут быть с успехом изучены рентгенографическими методами. Весьма часто эти специальные химические методы должны сочетаться с приемами, необходимыми для защиты сотрудников лаборатории, как это описано в первой части данной главы. [45]