Микродеформация - решетка
Cтраница 1
 |
Зависимость полуширины рентгеновской линии ( / и термоэдс ( 2 от температуры отпуска сплава Fe-Со - V. [1] |
Микродеформация решетки и величина областей когерентного рассеяния не вычислялась, так как сплав имеет склонность к образованию мартенситной структуры, что, как известно [4, 5], значительно затрудняет разделение эффектов физического уширения и снижает надежность полученных результатов. На рис, 2 показано изменение полуширины ли кии ( 200) в зависимости от температуры отпуска. [2]
Да / а - относительная микродеформация решетки; DHKL - величина блоков мозаики. [3]
Пластическое деформирование определяется степенью пластической деформации по глубине поверхностного слоя е и микродеформацией решетки. [4]
Расчет показал, что в районе температур 300 С уже в течение секундных интервалов времени происходят быстрые изменения микродеформаций решетки. [5]
Существенное влияние малого количества а - и карбидной фаз на сопряженную с ними у-фазу и происходящее при этом изменение износостойкости ( как и в случае эффекта самосопряжения) являются следствием однородной микродеформации решетки, распространяющейся на тысячи атомных порядков - и обусловленной силами межкристаллитного воздействия на сопрягающиеся кристаллические решетки. [6]
Подсчет времени, необходимого для увеличения размеров блоков на различную степень при отжиге порошков карбонильного железа, показывает, что продолжительность отжига в этом случае увеличивается в несколько раз по сравнению со временем отжига, изменяющим микродеформации решетки в такой же степени. [7]
 |
Изменение раз. меров бло-ков D и микродеформаций решетки 8 карбонильного железа в зависимости от температуры его отжига. [8] |
На рис. 30 приведены температурные зависимости изменения величин D и е при часовом отжиге порошков в вакууме. Видно, что температура начала уменьшения микродеформаций решетки а-феррита совпадает с началом карбидных превращений ( 250 С), интенсивный же рост блоков начинается при температурах, соответствующих окончанию коагуляции кристалликов цементита и выделению углерода из твердого раствора. [9]
Рентгеноструктурные исследования показали, что интенсивная пластическая деформация ( ИПД) приводит к уширению пиков, увеличению микродеформации решетки и параметра решетки, снижению плотности. Показано, что на стадии прокатки и последующего отжига имеет место уменьшение этих параметров, что свидетельствует о формировании сильнофрагментированной структуры. [10]
Для выяснения характера процессов, вызывающих уширение дифракционных максимумов, на дифрактомет-ре были измерены полуширины рентгеновских рефлексов ( 006) и (00.12) необлученного и облученного образцов. В результате обработки этих данных выяснилось, что истинное уширение рентгеновских линий с точностью 25 % укладывается на кривую [ - tg 9, что свидетельствует об основном вкладе в уширение микродеформаций решетки. [11]
В соответствии с уравнением (14.1) дислокации вызывают смещение атомов из узлов кристаллической решетки. При хаотическом распределении дислокаций смещение атома определяется суперпозицией смещений от каждой дислокации, поэтому феноменологически результат действия дислокационных полей можно рассматривать как локальное изменение межплоскостного расстояния. Величина Adm / d0 характеризует усредненное по кристаллу максимальное значение однородной деформации микрообъемов и называется микродеформацией решетки. [12]
 |
Эллипсоид деформации е ( а и главные напряжения d и а % для плосконапряженного состояния ( б. Напряжения вдоль направления Ф О. [13] |
Остаточные напряжения ( после обработки давлением, резких тепловых воздействий, фазовых превращений, сопровождающихся изменениями объема) уравновешиваются в объеме всей детали ( или значительной ее части), вследствие этого детали по объему имеют зоны напряжений разного знака. Это объясняет термин зональные напряжения. Термин макронапряжения имеет смысл только в связи с представлением о микронапряжениях как напряжениях, уравновешивающихся в микрообъемах - внутри зерен как основного элемента микроструктуры. Однако в последнее время стало ясно, что деформации решетки, создающие эффект рентгеновских микронапряжений, связаны с упругими полями дислокаций. В связи с этим целесообразно отказаться от термина микронапряжения ( а следовательно, и от термина макронапряжения) и пользоваться термином микродеформации решетки, имея в виду поле упругих деформаций от дислокаций, или выражать эту характеристику через плотность дислокаций и их распределение. [14]
Страницы: 1