Микрорадиоволна

Cтраница 3

Первый этап контроля предполагает наличие основания из металла или другого материала ( например, при намотке изделий из стеклопластика), которое для микрорадиоволн служит отражающим экраном. [31]

Как при амплитудном, так и при фазовом методах контроля должно обеспечиваться постоянство расстояния между срезами антенн и поверхностями изделий, так как вследствие интерференции микрорадиоволн в этих промежутках образуются экстремумы СВЧ-сигнала. [32]

В Советском Союзе стабильные генераторы этого диапазона, работающие по принципу модуляции электронного пучка, были разработаны под руководством Н. Д. Девяткова, и только после их внедрения появилась возможность использовать микрорадиоволны для исследования твердых тел. В 1935 г. советские ученые Соколов [101], а затем Брюхоненко и Самбора [102] предложили способ и устройство для определения неоднородностей в материалах с помощью радиоволн. [33]

Функциональная схема установки, работающей по фазовому микрорадиоволновому методу. [34]

Схема установки, работающей по фазовому методу ( рис. 3.11), представляет собой интерферометр, состоящий из следующих конструктивных элементов. Энергия микрорадиоволн по волноводу 2, поступающая от генератора 1, разветвляется на два потока с помощью тройника 4 и поступает в оба плеча интерферометра. Перед началом измерений интерферометр с помощью аттенюаторов 3 и фазовращателей 5 настраивают таким образом, чтобы индикатор 17 показывал нулевой отсчет. При хорошем согласовании обоих плеч интерферометра добиться нулевого показания не представляет особых трудностей. [35]

Для осуществления контроля па исследуемое изделие с помощью генератора подают через рупорную антенну микрорадиоволны ( с длиной волны 10 - 10 см) в виде последовательных импульсов. Перемещаясь по волноводу, микрорадиоволны попадают на высокочувствительный полупроводниковый ( см. Полупроводниковые материалы) детектор и затем на волноводный фазовочас-тотный или амплитудный дискриминатор. Анализ фазовочастотной характеристики сигнала позволяет определить такие параметры материалов, как коэфф. [36]

Схема контроля многослойной среды. [37]

На практике наиболее часто применяются многослойные конструкции - это различные клеевые соединения, состоящие из материалов, обладающих различными физико-механическими свойствами. Поэтому целесообразно рассмотреть прохождение микрорадиоволн через многослойную конструкцию и отражение их от нее. [38]

После тщательной настройки антенн образец сканируется относительно антенн. При этом фиксируется мощность микрорадиоволн, отраженных от клеевой прослойки. [39]

Прозрачность бесцветных стекол в тонких пластинках. [40]

Для волн большой длины стекла непрозрачны. Они становятся снова прозрачными только в области микрорадиоволн. При работе в коротковолновой инфракрасной области стекла позволяют [ осуществлять различные весьма удобные фильтры. [41]

Принцип работы радиополяризационного дефектоскопа основан на изменении плоскости поляризации и частичной деполяризации прошедшей или отраженной волны на границе раздела дефектного и бездефектного участков. При таком взаимном положении антенн в отсутствие дефектов энергия микрорадиоволн не поступает в приемную антенну. Если имеется дефектный участок ( трещина, расслоение), то на границе этого участка появится сигнал, интенсивность которого будет зависеть от величины раскрытия дефекта и от угла поворота плоскости поляризации прошедшей или отраженной волны по сравнению с падающей. [42]

Схема сканирующего устройства для изделий цилиндрической формы. [43]

Плоскостные развертывающие устройства создаются за счет возвратно-поступательного движения антенн относительно изделия с последующим построчным их сдвигом. При этом также должна быть обеспечена синхронизация и фазирование для того, чтобы избежать геометрических искажений при воспроизведении распределения интенсивности микрорадиоволн в каждом последовательно просматриваемом участке изделия. Существуют различные виды плоскостных развертывающих устройств. Их выбор обусловлен различными факторами: материалом, формой изделия ( лист, диск), методом контроля. [44]

Режим работы на отражение для интерферометрических устройств наиболее целесообразен при контроле технологических параметров однослойных изделий, в том числе изделий на металлической подложке. Это объясняется тем, что наличие клеевой прослойки, а также пористые материалы вызывают большие погрешности в определении фазового сдвига при отражении микрорадиоволн от многослойных конструкций. Эти погрешности практически невозможно учесть, так как они возникают за счет рассеяния микрорадиоволн на неоднородностях клеевой прослойки и пористых материалов. [45]

Страницы: 1 2 3 4