Cтраница 1
Микроскоп сравнения состоит из тубуса, в нижней части которого расположены осветитель и держатель для. При работе микроскоп устанавливают непосредственно на исследуемую поверхность. Лампа осветителя одновременно освещает и исследуемую поверхность и образец. Благодаря полупрозрачному зеркальцу, установленному перед объективом микроскопа, в поле зрения одновременно видны поверхности и детали и образца. С помощью микроскопа сравнения оценку чистоты поверхности можно осуществить значительно точнее, чем невооруженным глазом. [1]
Микроскоп сравнения не требует какой-либо дополнительной фокусировки. При его установке на контролируемую деталь в окуляре пэ-является резкое изображение оцениваемой поверхности. [2]
Микроскоп сравнения дает возможность оценивать только качество чистоты поверхности, величину же микронеровностей микроскопом определить нельзя. [3]
Микроскоп сравнения позволяет измерять чистоту поверхности в пределах 5 - 13-го классов включительно и рекомендуется для работы в цеховых условиях. [4]
Микроскоп сравнения является простым оптическим прибором, в поле зрения которого одновременно видны поверхности исследуемого образца и образца с известной шероховатостью. [5]
![]() |
Микроскоп сравнения ЛИТМО. [6] |
Микроскоп сравнения ЛИТМО приведен на-рис. [7]
Микроскопы сравнения других типов имеют сменные объективы и окуляры, что дает возможность осуществлять увеличение от 15 до 200 раз. [8]
![]() |
Образцы шероховатости поверхности. [9] |
Применение микроскопов сравнения значительно повышает точность оценки шероховатости поверхности. [10]
![]() |
Оптическая схема микроскопа сравнения МС-48. / - электролампа, 2 - разделительная призма, 3 - окуляр, 4 - объектив, 5 - эталон, 6, 7 - диафрагма, 8 - контролируемая деталь. [11] |
При оптическом методе применяются микроскопы сравнения. От лампочки / лучи света падают в призму-кубик 2, где разделяются на два направления. Другая часть лучей направляется гипотенузой призмы 2 вниз, проходит диафрагму 7 и, отразившись от контролируемой поверхности детали 8, возвращается в призму 2, проходит через объектив 4 и дает во второй половине окуляра 3 изображение поверхности контролируемой детали 8, расположенной рядом с изображением поверхности эталона. Микроскоп сравнения имеет увеличение в 55 раз и поле зрения 2 8 мм. С помощью микроскопа можно надежно различать шероховатость до 9 - 10 классов включительно. [12]
Для более точной оценки шероховатости поверхностей применяют микроскопы сравнения, а для определения величины шероховатости в микронах по критериям Ra или Kz ( см. § 6) применяют различные интерференционные микроскопы и контактные щуповые приборы. [13]
Для более точной оценки шероховатости поверхностей применяют микроскопы сравнения, а для определения величины шероховатости в микрометрах - раз-лнчные микроскопы ( интерференционный, двойной) и контактные щуповые приборы. [14]
Для повышения надежности контроля шероховатости до 10-го класса применяют микроскопы сравнения накладного, переносного и стационарного типов. [15]