Ультразвуковой микроскоп
Cтраница 1
Ультразвуковые микроскопы такого типа часто называют Scanning Laser Acoustic Microscope ( SLAM) - сканирующий лазерный акустический микроскоп. [1]
 |
Схема ультразвукового дефектоскопа ( микроскопа проф. С. Я - Соколова с электронно-лучевой трубкой в качестве излучателя и индикатора. [2] |
Описанный ультразвуковой микроскоп может работать и по методу приема отраженного сигнала. Разница в этом случае по сравнению со схемой рис. 3 - 38 а заключается лишь в установке передающей пьезоэлектрической пластинки 3, с той же стороны исследуемого объекта, что и приемное устройство. [3]
 |
Дифракция све - кварцевой пластинки /, освещает. [4] |
Принцип ультразвукового микроскопа впервые предложен С. Им же изготовлен первый такой прибор. [5]
 |
Принципиальная схема получения видимого изображения в ультразвуковом микроскопе. [6] |
В ультразвуковом микроскопе в качестве излучения используются ультразвуковые волны. Разрешающая способность микроскопа определяется длиной волны ультразвука и равна 10 - 15 мкм. [7]
 |
Схема работы ультразвукового микроскопа С. Я.Соколова. [8] |
Принцип работы ультразвукового микроскопа состоит в следующем. В сосуде с жидкостью находится объект, увеличенное изображение которого мы хотим получить при помощи ультразвука. [9]
 |
Схема ультразвуковых микроскопов проф. С. Я. Соколова со специальными электронными трубками. [10] |
Разрешающая способность ультразвуковых микроскопов зависит от площади поперечного сечения электронного луча в трубках, свойств акустических линз и пьезоэлектрических пластин, а также от длины ультразвуковых волн и может быть очень высокой, равной около 10 - 15 мк. [11]
Принцип работы ультразвукового микроскопа состоит в следующем. В сосуде с жидкостью находится объект, увеличенное изображение которого мы хотим получить при помощи ультразвука. [12]
Особый интерес представляет ультразвуковой микроскоп. Когда оказываются бессильными оптический и электронный микроскопы, приходит на помощь большая проникающая способность ультразвуковых лучей. Ультразвуковые колебания высокой частоты могут распространяться, как и световые лучи, в виде направленных пучков, подчиняясь законам геометрической оптики. [13]
В описанных схемах ультразвуковых микроскопов для получения звукового изображения с приемом отраженного сигнала от дефектов пучок ультразвуковой энергии приходится вводить в исследуемый объект под некоторым углом. Но такой метод ввода ультразвука в исследуемый объект требует постоянно изменять угол наклона пьезопла-стинки по отношению объекту при различных толщинах последнего, что усложняет конструкцию держателей для пьезопласти - HOIK или требует работать в импульсном режиме. [14]
Примером исполнения таких приборов могут служить ультразвуковые микроскопы с видимым изображением исследуемого объекта в непрозрачных материалах. [15]
Страницы: 1 2 3