Сравнительный микроскоп
Cтраница 2
Во избежание появления ошибок при оценке шероховатости по образцам для чистых поверхностей ( 7 - 10 - й классы чистоты) применяется сравнительный микроскоп. В нем устанавливаются проверяемая деталь и образец. Микроскоп устроен так, что изображения их оказываются рядом, что при соответствующем увеличении дает возможность безошибочно сравнить чистоту поверхностей образцов. [16]
Для количественной оценки шероховатости применяют щуповые приборы ( про-филометры, профилографы) и оптические приборы ( двойной микроскоп и интерференционный микроскоп), а для качественной - образцы шероховатости и сравнительный микроскоп. [17]
Для количественной оценки шероховатости применяют щуповые приборы ( профилометры, профилографы) и оптические приборы ( двойной микроскоп и интерференционный микроскоп), а для качественной - образцы шероховатости и сравнительный микроскоп. [18]
В промышленности применяют следующие приборы н методы: количественные, определяющие неровности в сечении; к ним относятся профилометр, профилограф, двойной микроскоп, интерференционный микроскоп, и качественные, к которым относятся образцы чистоты поверхности и сравнительный микроскоп. [19]
 |
Измерение шероховатости на щуповом приборе.| Измере - - ние шероховатости поверхности методом светового сечения. [20] |
Шероховатость поверхности контролируют: щуповыми приборами, в которых микронеровности ощупываются тонкой алмазной иглой ( рис. 88) с последующим автоматическим расчетом параметра Л; двойным микроскопом МИС-11, работающим по методу светового сечения ( рис. 89), с последующим расчетом параметра Rz, сравнением с эталонами на сравнительных микроскопах или с использованием десятикратной лупы. [21]
Как было указано выше, контроль методом визуального сравнения чистых поверхностей 7 - 10-го классов с образцами сопровождается появлением ошибок. Для улучшения контроля чистых поверхностей сравнением с образцами применяется сравнительный микроскоп. [22]
Поверхность изделия сравнивается в цеховых условиях с поверхностью эталонов чистоты или с помощью невооруженного глаза, или же более точно посредством сравнительного микроскопа. На рис. 9, б показана оптическая схема одного из сравнительных микроскопов. Изделие 5 и эталон чистоты 3 располагаются на соответствующих предметных столиках. [23]
Чистоту поверхностей проверяют сравнением с эталоном. Удобными для качественной оценки чистоты поверхности различных видов режущих инструментов являются сравнительные микроскопы. Для более точной и объективной оценки чистоты поверхности применяют различные про-филометры и профнло-графы. [24]
Кроме спектрофотометрических работ, фотометр применяется также для измерения коэффициентов яркости светорассеивающих поверхностей и их блеска, для измерения белизны и относительных цветовых измерений. Кроме того, прибор может быть использован для измерения коэффициентов отражения и в качестве сравнительного микроскопа. [25]
 |
Визуально-фотоэлектрический фотометр ФМ-58. [26] |
Кроме спектрофотометрических работ, фотометр применяется также для измерения коэффициентов яркости светорассеивающих поверхностей и их блеска, для измерения белизны и относительных цветовых измерений. Кроме того, прибор может быть использован для измерения коэффицнентов отражения и в качестве сравнительного микроскопа. [27]
Кроме спектрофотометрических работ, фотометр применяется также для измерения коэффициентов яркости светорассеивающих поверхностей и их блеска, для измерения белизны и относительных цветовых измерений. Кроме того, прибор может быть использован для измерения коэффициентов отражения и в качестве сравнительного микроскопа. [28]
 |
Принципиальная схема ( а и внешний вид ( б фотоколориметра. [29] |
Кроме спектрофотометрическнх работ, фотометр применяется также для измерения коэффициентов яркости светорассеивающпх поверхностей и их блеска, для измерения белизны ц относительных цветовых измерений. Кроме того, прибор может быть использован для измерения коэффициентов отражения и в качестве сравнительного микроскопа. [30]
Страницы: 1 2 3