Cтраница 4
Наблюдения в оптическом микроскопе показали, что на поверхности работающего катализатора появляются зоны - участки, имеющие полигональные очертания, границы которых остаются неизменными при дальнейшей работе катализатора. Далее было показано, что отдельные зоны представляют собой выходы граней кристаллитов поликристаллического образца на поверхность пластинки, откуда следует вывод о различной способности к разработке при катализе граней с разными индексами. Этот вывод был подтвержден прямыми опытами с электронно-микроскопическим исследованием изменения поверхности отдельных граней монокристаллов меди при нескольких каталитических реакциях. [46]
![]() |
Микроструктура талла. [47] |
Микроанализ на оптическом микроскопе позволяет выявить размеры и расположение структурных составляющих сплава, если размеры их не менее 0 2 мкм. [48]
Микроанализ на оптическом микроскопе позволяет выявить размеры и расположение структурных составляющих сплава, если размеры их не менее 0 2 мкм. [49]
![]() |
Различные уровни структурной организации коллагена ( по Кону. 1 - третичная структура. 2 - молекула тропоколлагена. 3 - коллагеновое волокно. [50] |
Видимые в оптическом микроскопе коллагеновые волокна состоят из различимых в электронном микроскопе фибрилл-вытянутых в длину белковых молекул, названных тропоколлагеном. Необходимо четко разграничивать понятия коллагеновые волокна и коллаген. Первое понятие по существу является морфологическим и не может быть сведено к биохимическим представлениям о коллагене как о белке. Коллагеновое волокно представляет собой гетерогенное образование и содержит, кроме белка коллагена, другие химические компоненты. [51]
Если посмотреть в оптический микроскоп на поперечный шлиф пластинки из армко-железа, окисленной при температурах в интервале 600 - 1000 С в смеси водорода и паров влаги, можно увидеть, что поверхностный слой окисной пленки весьма плотный и образован крупными кристаллами, тогда как вблизи поверхности раздела с металлом существует слой мелких кристалликов с включениями, и трещинами. [52]
Таким образом, оптический микроскоп может использоваться лишь для наблюдения частиц, размер которых сопоставим с длиной световой волны. Так как длина волны электронного излучения зависит от напряжения электрического поля, ее можно изменять в довольно широких пределах, меняя величину напряжения. [53]
При наблюдении в оптический микроскоп делают с помощью алмазного наконечника ( это же можно сделать и на приборе микротвердости; см. ниже стр. Затем приготовляют соответствующие пленки - лаковую или кварцевую и вынимают их из раствора а небольших, заранее приготовленных прозрачных ( полистироловых дисках. Очевидно, что на пленке наряду со структурой металла получается определенное отображение и этих отметок, окружающих интересующее место шлифа. Эти диски с пленками рассматривают в оптический микроскоп, который выявляет достаточно точно отмеченный участок. Затем проводят несколько вспомогательных операций для переноса пленки на объект-диафрагму, которая устанавливается в камеру электронного микроскопа. При этом добиваются, чтобы интересующий участок структуры располагался в центре отверстия указанной выше объектной диафрагмы. [54]
![]() |
Препарат эмульсии в поле зрения окуляра микроскопа с микрометрической сеткой.| Цена деления шкалы микрометрической сетки в зависимости от увеличения объектива и окуляра. [55] |
Для анализа используют оптический микроскоп любого типа, предназначенный для лабораторных исследований, в окуляр которого вставляют микрометрическую сетку. Цена деления сетки зависит от кратности увеличения окуляра и объектива и определяется с помощью окуляр-микрометра. [56]
![]() |
Препарат эмульсии н поле зрения окуляра микроскопа с микрометрической сеткой.| Цена деления шкалы микрометрической сетки в зависимости от увеличения объектива и окуляра. [57] |
Для анализа используют оптический микроскоп любого типа, предназначенный для лабораторных исследований, в окуляр которого вставляют микрометрическую сетку. Цена деления сетки зависит от краткости увеличения окуляра и объектива и определяется с помощью окуляр-микрометра. [58]
Предел разрешающей способности оптического микроскопа ограничен дифракцией света на рассматриваемых объектах, которая возникает, когда длина световой волны имеет тот же порядок, что и размеры объекта. [59]
Прибор отличается от оптического микроскопа тем, что линзы представляют собой электромагнитные или электрические поля; изображение либо проектируется на фотографическую пластинку, либо используется трубка счетчика Гейгера - Мюллера; изменения в интенсивности или контрастности изображения зависят от изменений в рассеивающей способности исследуемого образца. Чтобы определить увеличение, проводят калибровку, чаще всего при помощи реплики ( отпечатка) со стандартной оптической дифракционной решетки. [60]