Cтраница 1
Интерференционная микроскопия преследует ту же цель, что и метод фазового контраста. [1]
Интерференционная микроскопия наряду с такими стандартными технич. [2]
Интерференционная микроскопия может осуществляться несколькими способами. В некоторых случаях две голограммы накладываются друг на друга, и с них одновременно восстанавливаются изображения. Интерференцию, обусловленную изменениями в поле объекта, можно увидеть, если первая из голограмм является голограммой незанятого объектом положения. [3]
Интерференционная микроскопия наряду с такими стандартными технич. [4]
На принципе интерференционной микроскопии создают микроскопы, работающие как в проходящем, так и в отраженном свете. Кроме повышения контраста, интерференционный микроскоп позволяет проводить количественные измерения разности хода в прозрачных объектах или измерять величину неровностей на поверхности непрозрачного объекта. Чувствительность интерференционных микроскопов оценивается в 0 05 - 0 01 длины световой волны. [5]
![]() |
Микрофотография внутренней волосяной трещины в образце полистирола, связанной с видимой неоднородностью67. [6] |
Кроме того, использование интерференционной микроскопии полезно также для наблюдения течения, возникающего на концах трещин в некоторых образцах полиметилметакрилата. Эти линии появляются, по-видимому, вследствие релаксации напряжений. [7]
![]() |
Большой микротом Харди. [8] |
Для фазово-контрастного метода или интерференционной микроскопии, а также для важных исследований при больших увеличениях могут потребоваться срезы толщиной в несколько микронов. Получение серий срезов такой толщины требует плотной пропитывающей матрицы, обладающей хорошей адгезией к образцу, и должно осуществляться механическими микротомами. Парафин, хотя его и часто используют, не вполне удовлетворителен. [9]
Гейн [ 1051 впервые попытался применить метод интерференционной микроскопии для изучения технологии волокна. [10]
Дальнейшее повышение чувствительности интерференционных методов и, следовательно, дальнейшие успехи интерференционной микроскопии возможны при переходе от двухлучевых интерферометров к многолучевым. [11]
Дальнейшее повышение чувствительности интерференционных методов и, следовательно, дальнейшие успехи интерференционной микроскопии возможны при переходе двухлучевых интерферометров к многолучевым. [12]
После основополагающих исследований Цернике были разработаны более сложные методы, которые в целом можно назвать интерференционной микроскопией. Они обычно предусматривают наличие какого-либо делителя пучка и управляемое введение фазового сдвига в один из пучков перед сведением. [13]
На рис. 131 6 показаны те же неровности поверхностного рельефа, сфотографированные с помощью специального метода интерференционной микроскопии. Принцип этого метода мы объяснять не будем, но фотография, думаем, скажет сама за себя. [14]
В СП сплавах с относительно крупным зерном ( примерно 10 - 15 мкм) удобно использовать интерференционную микроскопию. [15]