Сканирующая микроскопия

Cтраница 1

Сканирующая микроскопия ( или эмиссионный микроанализ) осуществляется с помощью электронного микрозонда. В этом случае рентгеновские лучи возбуждаются электронным лучом, двигающимся через регулярные интервалы по образцу, а наблюдение ведется с помощью телевизионной техники на экране катодной трубки. [1]

Электронная сканирующая микроскопия, одной из наиболее интересных характеристик которой является большая глубина резкости, с ее широкими возможностями проводить прямые наблюдения становится дополнительным методом по отношению к классической электронной микроскопии, как только зародыши на какой-либо из граней достигают определенного размера. [2]

Этих недостатков частично лишены методы сканирующей микроскопии, существенное преимущество которых состоит в исключении стадии сложного препарирования образцов. В последних моделях растровых микроскопов этот предел снижен до 20 А. [3]

Данные о механизмах кристаллизации природных цеолитов весьма скудны, но результаты изучения цеолитов осадочных пород методом сканирующей микроскопии указывают на возможность существования нескольких механизмов. [4]

Изменение прочности графитированных углеродных волокон после термообработок в контакте с никелем в течение 24 ч. [5]

Последующие исследования композиции на основе никелевой матрицы были направлены на изучение механических свойств и характера разрушения композиционного материала [13], контролируемого методами оптической и электронной сканирующей микроскопии. Чрезвычайно низкие значения механических характеристик полученного композиционного материала авторы объясняют малой прочностью связи матрицы и волокна, охрупчиванием матрицы и разупрочнением углеродных волокон в процессе формирования композиции. Скорость окисления волокон в композиции значительно выше, чем волокон взятых отдельно. [6]

Биологические и химические науки дают немало примеров любопытных измерений: электрохимические методы, в которых используются ионные электроды, электрофорез, вольтаметрия и полярографический анализ, а также хроматография, инфракрасная и визуальная спектроскопия, ЯМР1, масс-спектроскопия, рентгеновская спектроскопия, ядерная квадратичная спектроскопия, электронная сканирующая микроскопия и др. Бесполезно пытаться в данной книге представить сколько-нибудь полный перечень этих сложных методов измерений. Более того, такая попытка лишь создаст впечатление, что эти методы не обладают фундаментальностью, присущей физическим измерениям, о которых шла речь выше в этой главе. [7]

В работе [244] проведены испытания технически чистого титана на усталость при кручении с постоянной амплитудой, ограниченной упругой деформацией при частоте нагружения 1700 и 12 циклов в минуту. Методом сканирующей микроскопии исследована поверхность изломов. Установлено, что в определенных зернах развивается скольжение, но в подавляющем большинстве зерен признаков скольжения не наблюдается. В процессе циклического деформирования в этих зернах появляются усталостные трещины, которые распространяются далее в направлении максимального сдвига. Авторы делают вывод о том, что процесс усталости в титане может развиваться без признаков скольжения. [8]

Поверхность разрушения жгута из углеродных волокон Торнел-50, показывающая наличие внутренних дефектов в волокне ( метод сканирующей электронной микроскопии. [9]

Однако и обычные углеродные волокна диаметром 7 - 8 мкм, получаемые на основе вискозного и полиакрилнитрильпого сырья, не являются свободными от внутренних и поверхностных дефектов. На рис. 8 представлена выполненная методом электронной сканирующей микроскопии фотография поверхности разрушения композиционного материала с матрицей на основе алюминия, армированной волокнами Торнел-50, на которой хорошо видны внутренние дефекты углеродного волокна. [10]

Отсюда следует, что метод сканирования является предпочтительной технологией, поскольку в нем максимальное пространственное разрешение будет определяться диаметром сфокусированного пучка, падающего на образец. Ионные пучки так же просто можно фокусировать и сканировать, как и электронные пучки, поэтому и метод ВИМС тоже может быть преобразован в сканирующую микроскопию. [11]

Неожиданно оказалось231, что фуллерен С60 тоже образует стабильную, исключительно жесткую ленгмюровскую пленку на поверхности воды. Ее изотерма ( зависимость средней площади, приходящейся на одну молекулу, от поверхностного давления - силы, приходящейся на единицу длины границы) при уменьшении площади характеризуется резким подъемом в точке, отвечающей диаметру 0 7 нм молекулы фуллерена в пленке. Из данных сканирующей микроскопии известно, что молекулы фуллерена характеризуются плотной упаковкой с параметром решетки 1 1 нм, что хорошо согласуется с полученной изотермой. [12]

По данным работы [60], при степени гидратации цемента, соответствующей 8 2 % неиспаряемой воды, в цементном камне без добавок хорошо различимы игольчатый эттрингит и C-S-H, а также столбчатые частицы Са ( ОН) 2 - Введение 1 % СаСЬ приводит к образованию тонких пластинок C-S-H - фазы, а с увеличением добавки до 2 % структура камня уплотняется и состоит из более тонких частиц. При дальнейшем повышении содержания СаСЬ до 3 5 % структура цементного камня становится губчатой. Однако и с помощью электронной сканирующей микроскопии нелегко установить особенности, присущие структуре цементного камня в результате введения СаСЬ, возможно, из-за гелеобразного характера гидратных новообразований. [13]

К оптическим методам относятся свето-польная, темнопольная и фазово-контрастная микроскопий в видимом свете. Эти методы применяются как самостоятельные, так и в сочетании с другими. В электронной микроскопии используют просвечивающую микроскопию на снятых с подложки пленках, метод реплик и сканирующую микроскопию. В табл. 24.3 дан перечень наиболее распространенных методов обнаружения и исследования неоднородности ЭНП. [14]

Размеры микроэлектродов лежат в интервале 0 1 - 50 мкм, миним. Микроэлектроды используют для анализа ультрамалых проб, исследования процессов в живых организмах, в клинич. Ультрамикроэлектроды применяют в туннельной сканирующей микроскопии и в электрохим. [15]

Страницы: 1 2