Cтраница 2
![]() |
Зависимость коэффициента насыщения газетной бумаги от толщины слоя краски на печатной форме. [16] |
Учет фрактальных особенностей микроструктуры поверхности бумаги позволил более полно и точно описать процесс переноса краски с формы на бумагу, оценить краскоемкости различных видов бумаг. Сравнивая полученные расчетным путем коэффициенты насыщения с экспериментальными данными Л. А. Козаровицкого, можно сделать заключение, что фрактальная теория не только не противоречит опытным данным, но и служит подтверждением принятой модели краскопереноса. [17]
Для проверки влияния микроструктуры поверхности дисков на скорость растворения серебра были поставлены два опыта. Опыты показали, что скорость растворения почти не зависит от микроструктуры поверхности. Это согласуется с данными других авторов и очень упрощает подготовку дисков для исследования. [18]
Для большинства реальных целей микроструктура поверхности является случайной, поэтому рассеянное объектом излучение можно рассматривать как результирующее поле, создаваемое отражением падающего светового потока от ближайших окрестностей блестящих точек, случайно и независимо друг от друга расположенных на облучаемой поверхности. Следствием этого является случайный характер отраженного сигнала, характеризуемого в соответствии с центральной предельной теоремой гауссовским законом распределения мгновенных значений напряженности поля. [19]
Во-вторых, в формировании микроструктуры поверхности обработки в этом процессе принимают основное участие ленточки калибрующей части развертки, имеющие большую площадь контакта с поверхностью отверстия, а следовательно, процесс развертывания сопровождается большим трением и износом как поверхности детали, так и поверхности инструмента. Появление незначительного износа острия грани на калибрующих ленточках в виде малых радиусов образует большие отрицательные углы резания, в результате чего микростружка, как продукт трения инструмента о деталь, начинает заклиниваться, создавать зоны уплотненного металла, втираться между ленточками развертки и поверхностью детали, вызывая их повышенный износ, оставляя следы на более мягкой, чем материал развертки, поверхности детали. [20]
Методами оптической микроскопии исследуют микроструктуру поверхности хрупкого излома сварного стыка. При этом удается определить размеры, геометрию и тип надмолекулярных образований. [21]
Конечно, если бы разрешалась микроструктура поверхности, то изображение также состояло бы из отдельных пятен. Однако эти пятна соответствовали бы дифракционным изображениям ( пятнам Эйри) тех блестящих точек, которые реализовались на данной поверхности. [22]
![]() |
В. Схема рефлексометра. [23] |
Перспективны растровые муаровые методы контроля микроструктуры поверхности и их деформации. [24]
Ниже обсуждается метод выявления изменений микроструктуры поверхности посредством голографического вычитания на основе пространственной фильтрации, позволяющий преодолеть указанные выше трудности и ограничения. Существо метода состоит в регистрации двукратно экспонированной голограммы в фурье-плоскости, создании в плоскости изображения картины несущих интерференционных полос бесконечной ширины посредством фиксированного наклона опорного пучка на малый угол и проведении на этапе восстановления пространственной фильтрации посредством ограничения освещаемой области голограммы. [25]
![]() |
Оптическая схема микроскопа светового сечения.| Схема рефлексометра. [26] |
Перспективны растровые муаровые методы контроля микроструктуры поверхности и их деформации. [27]
![]() |
Микрофотография зоны увязания трещины на границе раздела слоев биметалла Ст. 3 Х18Н10Т, Х70. [28] |
Наблюдение, фотографирование или киносъемка микроструктуры поверхности образца осуществляется через смотровое окно, состоящее из двух плоскопараллельных кварцевых стекол 15 и 16, впаянных в корпус криостата с вакуумным зазором между ними. При этом предусмотрено использование металлографического микроскопа 17 типа МВТ. [29]
![]() |
Схема определения цены деления окуляра микроскопа. А - шкала объект-микрометра. В - шкала окуляр-микрометра. [30] |