Cтраница 1
Емкость измерительного конденсатора определяется относительной диэлектрической проницаемостью контролируемого вещества. Измерительный и эталонный конденсаторы включают по дифференциальной схеме. При этом методе измерения на измерительный прибор ( миллиамперметр) воздействует разность усиленных операционным усилителем напряжений, снимаемых с измерительного и эталонного конденсаторов. Показания миллиамперметра будут пропорциональны разности модулей комплексных сопротивлений измерительного и эталонного конденсаторов. [1]
![]() |
Блок-схема прибора для измерения диэлектрической проницаемости в низкочастотных полях. [2] |
Емкость измерительного конденсатора может меняться от 6 до 1000 пф. Индуктивность контура меняется путем переключения от LI до L при работе на частотах от 105 до 3 107 гц. [3]
Емкость измерительных конденсаторов была определена с точностью 0 2 % и оказалась равной для двух конденсаторов С ь 11 51, C b2 J2 пф. [4]
Изменение емкости измерительного конденсатора приводило к разбалансу мостовой схемы, работавшей на переменном токе частотой 175 кГц; усиленное напряжение разбаланса поступало на синхронный детектор ( рис. 4.27), а затем на РОП, на который подавался и сигнал, пропорциональный В. [6]
![]() |
Емкостная схема замещения трансформатора тока типа ТФКН-330.| Принципиальная схема мосаа для измерения диэлектрических потерь. [7] |
Сг - емкость измерительного конденсатора; С3 - емкость последней обкладки относительно корпуса; С4 - то же относительно вторичных обмоток; Cj - емкость вторичных обмоток относительно магнитопровода М; Се - то же относительно корпуса; Л - Лг - первичная обмотка; И-Иг - вторичная обмотка; ЗТТ - вывод от магнитопровода; / - токоведущая часть обмотки; 2 - бак трансформатора. [8]
![]() |
Схема электронного устройства для измерения относительной диэлектрической проницаемости. [9] |
Измерение производят путем сравнения емкости измерительного конденсатора Си с емкостью эталонного конденсатора Сэт. [10]
Для измерения tg б и емкости измерительного конденсатора С2 необходимо снять контактный колпак 16 с заземляемого вывода 15 ( рис. 5 - 5 а), провод от измерительного моста типа МД-16 подключить к контактному зажиму вывода 15; экранирующую оболочку этого провода следует присоединить к соединительной втулке ввода 8 и заземлить. [11]
![]() |
Схемы подключения электродов к испытуемому образцу и тера. [12] |
Метод заключается в определении отношения емкости измерительного конденсатора, между обкладками которого помещается испытуемый образец, к емкости конденсатора в вакууме ( воздухе) и определении тангенса угла диэлектрических потерь. [13]
Определение диэлектрической проницаемости сводится к измерению изменения емкости измерительного конденсатора при заполнении его жидкостью. [14]
![]() |
Общий вид измерительного конденсатора с кварцевыми трубками. [15] |