Cтраница 3
Полупроводниковые ЗУ менее устойчивы, чем ЗУ на магнитных сердечниках, и могут быть источником большего числа сбоев. В устройствах, снабженных только проверкой четности, большинство таких неисправностей обнаруживается, однако отдельные виды неисправностей могут вызывать многократные ошибки, которые могут как обнаруживаться, так и не обнаруживаться. При отсутствии проверки четности сбои приводят к увеличению числа событий на отказ и то же число событий, определяемое пользователем, может быть больше, чем в ЗУ на магнитных сердечниках. В большинстве типов полупроводниковых ЗУ небольшой емкости частота возникновения событий может оставаться в допустимых пределах, однако в устройствах большой емкости ( например, 1 Мбит) чрезвычайно желательно введение исправления ошибок. Сказанное справедливо и в отношении ЗУ мини-систем, где исправление ошибок применяется не всегда. [31]