Cтраница 3
Как было показано, при точении, растачивании и торцовом фрезеровании на различных подачах минимум интенсивности размерного износа наблюдается при одной и той же оптимальной температуре резания. При повышении и снижении температуры резания от оптимальной интенсивность износа инструмента повышается. [31]
Вследствие интерференции опорного и предметного пучков на пластинке образуется система чередующихся прямолинейных максимумов и минимумов интенсивности. Пусть точки Л и В соответствуют серединам соседних интерференционных максимумов. [32]
Вследствие интерференции опорного и предметного пучков на пластинке образуется система чередующихся прямолинейных максимумов и минимумов интенсивности. Пусть точки А и В соответствуют серединам соседних интерференционных максимумов. [33]
Расстояние между двумя соседними максимумами интенсивности называется расстоянием между интерференционными полосами, а расстояние между соседними минимумами интенсивности света на экране - шириной интерференционной полосы. [34]
На изображении кристалла должны быть дополнительные контуры в середине фольги, обусловленные дополнительными максимумами или минимумами интенсивности прошедшей волны. [35]
![]() |
Схема влияния свойств лиганда L на частоту VNH моле. [36] |
Характерной особенностью построенных таким образом кривых ( рис. 9) является наличие экстремума ( максимум частоты, минимум интенсивности и константы ассоциации) в точке, соответствующей алкилфосфинам. Этот факт истолковывается следующим образом. Лиганды, расположенные на оси абсцисс левее R3P) не способны или не склонны к образованию л-связей с атомом платины. Их влияние на свойства связей Pt - N и N - Н ограничивается чисто индуктивным эффектом, сила которого определяется электроотрицательностью атома - до нора электронов. [37]
![]() |
Относительный выход обратно рассеянных частиц х в зависимости от угла влета в кристалл для идеального ( 1 и для кристалла с дефектами ( 2. [38] |
Таким образом, в угловом распределении частиц, упруго рассеянных на монокристалле в направлении плотной упаковки, наблюдается минимум интенсивности Xmin - по глубине которого можно качественно судить о структуре мишени. [39]
Оказывается, что при пропускании однородного пучка электронов через кристалл в прошедшем пучке обнаруживается картина чередующихся максимумов и минимумов интенсивности, вполне аналогичная дифракционной картине, наблюдающейся при дифракции электромагнитных волн. Таким образом, в некоторых условиях поведение материальных частиц - электронов-обнаруживает черты, свойственные волновым процессам. [40]
Оказывается, что при пропускании однородного пучка электронов через кристалл в прошедшем пучке обнаруживается картина чередующихся максимумов и минимумов интенсивности, вполне аналогичная дифракционной картине, наблюдающейся при дифракции электромагнитных волн. Таким образом, в некоторых условиях поведение материальных частиц - электронов - обнаруживает черты, свойственные волновым процессам. [41]
Оказывается, что при пропускании однородного пучка электронов через кристалл в прошедшем пучке обнаруживается картина чередующихся максимумов и минимумов интенсивности, вполне аналогичная дифракционной картине, наблюдающейся при дифракции электромагнитных волн. Таким образом, в некоторых условиях поведение материальных частиц-электронов-обнаруживает черты, свойственные волновым процессам. [42]
Предупреждение неблагоприятного действия ультразвука и сопровождающего его шума на организм работающих прежде всего должно сводиться к сокращению до минимума интенсивности ультразвуковых излучений и времени действия. Поэтому при выборе источника ультразвука для проведения той или иной технологической операции не следует использовать мощности, превышающие потребные для их выполнения; включать их надо лишь на тот период времени, который требуется для выполнения данной операции. [43]
Отсюда следует, что разность хода между крайними лучами параллельного пучка ( А dc), идущего в направлении минимума интенсивности, равна целому числу длин волн. [44]
![]() |
Интерференционная картина, полученная с двумя световыми пучками от двух разных лазеров. [45] |