Cтраница 3
Прибор типа ЙЕ-2 позволяет измерять только емкость образца при частоте 465 кгц в пределах 0 2 - 1 000 пф. В приборе использован метод биений. Испытываемый конденсатор присоединяется параллельно емкости контура генератора, частота которого при этом изменяется. Эта частота сравнивается с фиксированной частотой вспомогательного генератора; разность этих частот ( биений) обнаруживают при помощи электронно-лучевой трубки или телефона. Уменьшая переменную емкость в контуре основного генератора, добиваются уменьшения разности частот до нуля. [31]
Первая колонка цифр каждой графы - емкость образцов в мг-вкв / г; вторая - емкость в % от Г охобр. [32]
Однако измеренная при такой системе электродов емкость образца больше истинной из-за собственной емкости на краях ( называемой краевой) и из-за токов утечки. [33]
Поправочный коэффициент В для учета искажения поля у краев электродов. [34] |
Следует помнить, что за значение емкости Сх образца принимается его емкость в параллельной схеме замещения. [35]
Клепка этилоиого эфира кремневой кислоты снижает сорбдионную емкость образца. [36]
С помощью этого метода обычно измеряют либо емкость образца с покрытием, либо сопротивление полимерной пленки. [37]
Эта чувствительность возрастает пропорционально квадратному корню из емкости образца при малых ее значениях, но снижается пропорционально емкости в случае крупных образцов большой емкости. [38]
С помощью этого метода обычно измеряют либо емкость образца с покрытием, либо сопротивление полимерной пленки. [39]
С помощью данного прибора может быть измерена емкость образца от 10 до 100 пф. [40]
Схема измерителя емкостей ИЕ2 ( ГИЕ-1. [41] |
Приборы этого типа служат для измерения только емкости образца. [42]
Определение значения диэлектрической постоянной основано на измерении емкости образца, представляющего собой плоский конденсатор, включенный в цепь переменного тока. [43]
Диэлектрическую проницаемость испытуемого материала вычисляют, предварительно измерив емкость образца Ср в эквивалентной параллельной или Cs в эквивалентной последовательной схеме. [44]
Для определения реверсивной диэлектрической проницаемости нелинейного диэлектрика измеряют емкость Ср образца при слабом переменном поле, на которое наложено более сильное постоянное поле Приближенно реверсивную емкость находят, используя схему фиг. [45]