Емкость - отклоняющая пластина
Cтраница 1
Емкость отклоняющих пластин С и индуктивность проводов образуют колебательные контуры, в которых возникают паразитные резонансы. Это приводит к резкому изменению чувствительности осциллографа в области очень высоких частот. Стремятся, чтобы резонансная частота была выше частоты самой высокой гармоники исследуемого сигнала. [1]
Емкость отклоняющих пластин составляет единицы пико-фарад. Такая емкость искажает ( увеличивает) фронт исследуемого наносекундного импульса. [2]
 |
Блок схема усилителя осциллографа. [3] |
Парафазный каскад работает на емкостную нагрузку С0, состоящую из параллельно соединенных емкостей отклоняющих пластин электроннолучевой трубки Слл, емкости монтажа См и выходной емкости Сак ламп этого же каскада. [4]
На частотах выше 100 Мгц отклоняющая система трубки должна иметь незначительные емкость отклоняющих пластин и индуктивность их выводов. Для этого уменьшают площадь пластин и увеличивают расстояние между ними, а выводы от них делают возможно более короткими проводниками. Эти меры позволяют получить полосу пропускания отклоняющей системы порядка 150 - 200 Мгц при достаточной чувствительности трубки. [5]
 |
Линии задержки. [6] |
Оконечный каскад нагружен на емкостную нагрузку, состоящую из параллельного соединения емкости отклоняющих пластин со всеми электродами трубки, собственной емкости пластин и емкости монтажа. [7]
Возможность применения трубок на очень высоких частотах до известной степени ограничивается емкостью отклоняющих пластин, а также емкостью и индуктивностью подводящих проводов. Помимо того, что эта емкость может оказаться недопустимо большой нагрузкой для источника исследуемого напряжения, резонансные явления, обусловленные указанными емкостью и индуктивностью, могут создать дополнительные трудности исследования на очень высоких частотах. С целью снижения емкости и индуктивности подводящих проводов выводы от отклоняющих пластин часто делают не через цоколь, укрепляемый в горловине трубки, а через стекло колбы непосредственно у отклоняющих пластин. Хорошим способом борьбы с вредным влиянием входной емкости пластин является подача исследуемого напряжения не прямо на пластины, а через катодный повторитель. [8]
Для расширения частотного диапазона осциллогргфических трубок выводы отклоняющих пластин делают возможно короче, что уменьшает их индуктивность; с этой целью выводы пропускают непосредственно через горловину трубки. Для уменьшения емкости отклоняющих пластин их размеры стремятся по возможности уменьшить. [9]
 |
Недиодные схемы детектирования.| Осциллоскопические методы измерения модуляции. [10] |
Согласования линии не требуется, если ее длина меньше четверти длины волны. В этом случае емкость отклоняющих пластин входит в емкость настроенного контура. Катушки связи и контуров должны быть рассчитаны в соответствии с теорией трансформаторной связи. [11]
Выше этой частоты сигналы, подведенные к трубке, не дадут изображения. На граничную частоту влияют емкость отклоняющих пластин и время пролета луча между ними. Каждая пара отклоняющих пластин представляет собой конденсатор, емкость которого колеблется в зависимости от конструктивного оформления - от единиц до 12 - 15 пф, и поэтому с повышением частоты входного сигнала до десятков и сотен мегагерц эта емкость начинает искажать форму сигнала. [12]
Частотная характеристика усилителя не должна выходить за пределы определенных измеримых значений. Ее измерения нужно производить при включенном осциллографе, емкость отклоняющих пластин которого входит в величину С. [13]
Возможности использования осциллографов могут быть несколько расширены, если использовать непосредственное подключение исследуемого сигнала к отклоняющим пластинам. С учетом схемных особенностей осциллографа в этом случае можно исследовать сигналы в частотном диапазоне, который определяется только емкостями отклоняющих пластин и соединительных проводников. При этом для синхронизации осциллографа используется развертка с внешним запуском. [14]
 |
Прохождение луча между отклоняющими пластинами при равенстве периода рассматриваемого колебания и времени пролета электронов вдоль пластин. [15] |
Страницы: 1 2