Модель - дефект
Cтраница 4
Дефектоскоп настраивают по стандартным образцам с искусственными дефектами, создаваемыми разными способами. В этом случае, несмотря на отсутствие адгезии, пленка может иметь плотный контакт с материалом ОК, пропускающий упругие колебания. Прозрачность такой модели дефекта увеличивается с уменьшение частоты. Поэтому ее применяют в основном при контроле на высоких частотах. [46]
Предельная чувствительность определяется минимальными размерами искусственного дефекта, уверенно выявляемого при данной настройке дефектоскопа и выполненного на заданной глубине в испытательном образце из того же материала, что и контролируемое изделие. В качестве размера предельной чувствительности принимается минимальная площадь ( в мм2) отверстия с плоским дном, ориентированным перпендикулярно акустической оси искателя, а само отверстие называют контрольным отражателем. Поэтому предельную чувствительность называют еще контрольной. Точное изготовление модели дефекта в виде плоскодонного отверстия связано с определенными трудностями, поэтому в качестве контрольных отражателей для работы с наклонными искателями применяют сегментные и угловые отражатели, а также боковые отверстия. [47]
 |
Искусственные отражатели, методом. [48] |
Амплитуда эхо-сигнала является главной измеряемой характеристикой, по которой судят о возможности обнаружения дефекта. Обычно рассчитывают ослабление амплитуды Р эхо-сигнала относительно некоторого максимального значения Р, достигаемою при возвращении всей излученной акустической энергии к искателю. При расчетах реальные дефекты заменяют моделями правильной геометрической формы. Амплитуды отражения от модели дефекта ( например, диска) п соответствующего искусственного отражателя ( например, плоскодонного отверстия) одинаковы, когда d К и I X. При нарушении этого условия отражения от модели дефекта обычно меньше, чем от соответствующего искусственного отражателя. [49]
Далее ПМК загружает файл модели оболочечного этапа и удаляет всю модель второго этапа за исключением внутренних параметров и массивов и линий оси трубопровода. ПМК рассчитывает по введенным пользователем параметрам дефекта длину модели коррозионного дефекта и длину приращений в продольном направлении и в направлении по окружности. По координатам базового угла матрицы остаточных толщин или точки с максимальной глубиной коррозионного повреждения ПМК определяет сегменты осевой линии, на которые попадает твердотельная модель. Затем программа определяет точку начала модели дефекта на сегменте линии оси трубопровода и устанавливает в ней локальную цилиндрическую систему координат, ось z которой сонаправлена с осевой линией трубопровода. После этого автоматически строится объемная КЭ-модель коррозионного участка трубопровода. [50]
Если шпон отслоился, то его край осторожно отгибают Острым ножом ( скальпелем) очищают шпон и плиту от остатков клея. Затем шпон прижимают к плите н сначала проглаживают ладонью от середины к краю, а затем небольшим теплым утюгом или нагретым бойком молотка. Удалив выжатый клей, приклеенный участок шпона прижимают струбцинами. Если шпон вспучился, необходимо изготовить из плотной бумаги модель дефекта тех же размеров и, разрезав модель посредине вздутия, определить, какая ширина разреза обеспечивает плотное прилегание шпоиа к плнте. Вырез во вздутии производят вдоль волокон шпона и, осторожно отгибая его края, удаляют засохший и вводят новый клей. После прижатия шпона, пока клей еще не застыл, удаляют перекрывающие друг друга края или вклеивают полоску из вырезанного шпона, затем зажимают склеиваемый участок струбциной или прижимают грузом. [51]
Разрешающая способность эхо-метода определяется минимальным расстоянием между двумя одинаковыми дефектами, при котором они фиксируются раздельно. Различают лучевую и фронтальную разрешающую способность. Лучевая разрешающая способность - это минимальное расстояние между двумя отражающими поверхностями в направлении прозвучивания, при котором они регистрируются раздельно. Фронтальная разрешающая способность - минимальное расстояние между двумя одинаковыми дефектами или моделями дефектов, залегающих на одинаковой глубине от поверхности ввода луча. [52]
 |
Зависимость нормальной составляющей поля и ее производных от ширины раскрытия дефек. [53] |
Магнитные заряды образуются не только на гранях дефекта, но и в прилегающих к ним областях. В углах дефектов плотность магнитных зарядов повышена. В расчетах абсолютных значений напряженности магнитных полей дефектов следует использовать среднее значение о0, полученное предварительно путем эксперимента на увеличенных моделях дефектов из испытуемого материала. Напряженность магнитного поля, рассеяния дефектов определяется не только его размерами, формой и расположением, но и магнитными характеристиками материала, а именно магнитной индукцией, дифференциальной и нормальной магнитными про-ницаемостями в намагниченном состоянии, соответствующем режиму контроля. Чем выше магнитная индукция материала и меньше нормальная и дифференциальная магнитные проницаемости, тем больше напряженность магнитного поля рассеяния дефекта при прочих равных условиях. [54]
Амплитуда эхо-сигнала является главной измеряемой характеристикой, по которой судят о возможности обнаружения дефекта. Обычно рассчитывают ослабление амплитуды Р эхо-сигнала относительно некоторого максимального значения Р, достигаемою при возвращении всей излученной акустической энергии к искателю. При расчетах реальные дефекты заменяют моделями правильной геометрической формы. Амплитуды отражения от модели дефекта ( например, диска) п соответствующего искусственного отражателя ( например, плоскодонного отверстия) одинаковы, когда d К и I X. При нарушении этого условия отражения от модели дефекта обычно меньше, чем от соответствующего искусственного отражателя. [55]
Полученные выше формулы позволяют описать упругое взаимодействие отдельных точечных дефектов. Но прежде чем приступить к записи общих соотношений, обратим внимание на выделенное положение изотропной среды, где точечный дефект с шаровой симметрией создает чисто сдвиговое поле напряжений. Оказывается, что в линейном приближении взаимодействие центров дилатации в изотропной среде отсутствует. В анизотропной среде или даже в изотропной среде с несимметричной моделью дефекта всегда имеется упругое взаимодействие точечных дефектов. Это взаимодействие удобно характеризовать энергией (19.17), считая, что Q относится к одному дефекту, а деформация etk создана другим дефектом. Энергия взаимодействия двух точечных дефектов естественным образом может быть выражена через тензор Грина соответствующей среды. [56]
Контроль клеевого нахлесточного соединения между двумя листами методом прохождения возможен также с односторонним доступом к ОК и бесконтактным излучением и приемом УЗ-волн [ 425, с. Для этого оптическим путем на поверхности листа формировали решетку из освещенных лазером параллельных линий, разделенных расстояниями 2 1 мм, равными длине волны этой моды в листе ( см. разд. Модели дефектов резко уменьшали амплитуду сигнала и уверенно выявлялись. [57]
Анализ показывает, что невозможно объективно определить геометрический размер дефекта по амплитуде сигнала входного преобразователя, так как последняя зависит не только от его глубины, но и от ширины раскрытия. По длительности сигнала в первом приближении можно установить, к какому диапазону ширины раскрытия принадлежит дефект, и затем по амплитуде сигнала примерно оценить глубину дефекта данного класса. Для такой оценки целесообразно пользоваться эталонами дефектов различного типа в сталях контролируемой марки. Магнитные заряды образуются не только на гранях дефекта, но и в прилегающих к ним областях. В углах дефектов плотность магнитных зарядов повышена. В расчетах абсолютных значений напряженности магнитных полей дефектов следует использовать среднее значение а, полученное предварительно путем эксперимента на увеличенных моделях дефектов из испытуемого материала. [58]
Страницы: 1 2 3 4