Cтраница 3
Из предыдущего обсуждения ясно, что определение числа и вида критических точек, имеющихся в зарядовом распределении, позволяет однозначно приписать системе структуру и установить, будет ли эта структура устойчива или нет. Если она неустойчива, то можно предсказать механизм изменения структуры. Другим полезным свойством связи является ее эллиптичность. При отсутствии аксиальной симметрии две перпендикулярные кривизны в критической точке связи, обозначенные как и Х2, в общем случае не являются вырожденными. В связях СС орбитальная модель тг-связей отражается в том, что величина одной такой кривизны меньше, чем другой, указывая на предпочтительность накопления заряда в плоскости, содержащей связевый путь. Эллиптичность связи, определяемая как е ( Х / Х2 - 1), где, является мерой отклонения плотности заряда вдоль связевого пути от радиальной симметрии. Эллиптичность представляет собой чувствительную меру степени тг-характера связи и в более общем смысле является мерой степени предпочтительности накопления электронного заряда в данной плоскости. Этот собственный вектор определяет главную ось эллиптичности связи. [31]